|
Главная | Контакты: Факс: 8 (495) 911-69-65 | | ||
Исследовании использовалиВынужденные параметрические колебания трубопроводов. В § 9.2 были получены уравнения (9.19), — (9.21), (9.36) малых вынужденных параметрических колебаний трубопроводов. Устойчивость малых параметрических колебаний рассмотрена в § 9.4. При исследовании динамической устойчивости использовалась однородная система (9.19) — (9.21), (9.36). При исследовании вынужденных параметрических колебаний надо рассмотреть неоднородную систему уравнений (9.19) — (9.21), (9.36) (положив ДР=ДТ=0). Систему уравнений (9.19) — (9.21), (9.36) можно представить в виде [аналогично (5.50)] 3. При исследовании динамической неравномерности движения машинного агрегата основополагающее значение имеет коэффициент 8[7\(cp)], соответствующий периодическому предельному режиму Т=Т^(у). С ним тесно связаны важнейшие параметры, описывающие кинематику и динамику машинного агрегата. В частности, угловая скорость «^(tp) и угловое ускорение е$(<р) главного вала однозначно выражаются через динамический коэффициент 8 [Ti- (
Диаграмма состояния Eu—Yb (рис. 265) построена по результатам дифференциального термического, рентгеновского и микроскопического анализов [1]. При исследовании использовали Ей и ТЬ чистотой по металлическим примесям 99,9 % (по массе). Взаимодействие Ей и Yb характеризуется неограниченной растворимостью в жидком состоянии. В твердом состоянии имеет место непрерывный ряд твердых растворов с ОЦК решеткой между Ей и высокотемпературной модификацией Yb. На основе низкотемпературной модификации Yb с ГЦК решеткой образуются ограниченные твердые растворы. Сведения о фазах системы Н—Та противоречивы, что связано с частичным или полным упорядочением фаз при низких темпера i \ ра* 4—7J. Наиболее надежными представляются результаты, полученные в работе 6] и позволившие построить значительную часть диафам-мы состояния системы Н—Та; в этом исследовании использовали монокристаллический Та чистотой 99,999 % (по массе). Более 1-50 образцов исследовали методами дифференциального термического и металлографического анализов. Точность определения концентрации Н составляла +0,2 %. Диаграмма, приведенная на рис. 460, построена в работе [8] на основании результатов исследования 16] и данных работы 7] по магнитной восприимчивости. В системе при температуре 46,3 ± 0,3 °С образуется фаза р по перитектоидной реакции и3 к + (а'Та), эвтектоидный распад фазы (а'Та) на р + б происходи при 45,3 + 0,3 "С; эвтектоидный распад фазы б на С + Y протекае при температурах —79 "С. В фазах (аТа) и (а'Та) металлические Диаграмма состояния Hf—Pd (рис. 478) построена по данным дифференциального термического, металлографического и рентгене структурного анализов [1]. При исследовании использовали иод и !-ный Hf и Pd чистотой 99,8 %. Диаграмма состояния Hf—Рг (рис. 479) построена в интервале концентраций 0—3 % (ат.) Hf по данным дифференциального термического, микроструктурного и рентгеноструктурного анализов 11; Сплавы готовили в танталовых тиглях в атмосфере Не и выдерживали при температуре, превышающей температуру плавления на 200—250 °С в течение 1 ч. При исследовании использовали Hf чисто той 99,9 % (по массе); Рг чистотой 99,9 % (по массе). Диаграмма состояния Hf— Sc (рис. 486) построена по результатам дифференциального термического, микроструктурного и рентгспо-структурного анализов [1]. При исследовании использовали Iff чистотой 98,9 % (по массе) и Sc чистотой 99,5 % (по массе). Диаграмма состояния Hf—Sn построена по данным дифференциального термического, микроструктурного и рентгеноструктурного анализов, измерения твердости и удельного электросопротивления сплавов, микротвердости фаз и приведена на рис. 488 согласно аналитическому обзору [1]. Температуры плавления чистых металлов и полиморфного превращения Hf приведены по данным работы [В1]. При исследовании использовали иодидный Hf чистотой 99,9 % и Sn чистотой 99,99 % (по массе). Результаты работы [1] в области, богатой Hf, хорошо согласуются с данными, приведенными в работе [Ш]. Однако температуры нонвариантных превращений в работе [1] ниже, чем в работе [Ш]. Диаграмма состояния Hf—Th (рис. 490) построена на основании данных термического и микроструктурного анализов и резистомег;жи flj. При исследовании использовали: губчатый Th и кристалл и ч а . кий Hf, основной примесью в которых был С в количестве 0,037 и 0,03 % (по массе) соответственно. Диаграмма состояния Hf—U (рис. 492) построена на основании данных термического, микроструктурного и рентгеноструктурного анализов [1]. При исследовании использовали иодидный Hf и If технической чистоты. Диаграмма состояния Hf—V (рис. 493) построена на основании данных дифференциального термического, микроструктурного и рентгеноструктурного анализов [1] . При исследовании использовали V электронно-лучевой плавки и Hf с примесью Zr [0,44 % (по массе)]. Диаграмма состояния Hf—Y (рис. 495) построена на основании данных пирометрического и микроскопического анализов [Э]. При исследовании использовали Hf чистотой 99,7 % и Y чистотой 98,3 % (по массе). Рекомендуем ознакомиться: Износостойкости материалов Исследования теплоемкости Изобарный потенциал Изображать графически Изображены различные Изображена характеристика Изображена зависимость Изображения крепежных Изображения распределения Изображение источника Изображение поверхности Изображение зависимости Исследования теплозащитных Изодромного регулятора Изогнутой поверхности |