Исследуемой поверхности

Профилографические методы контроля шероховатости основаны на регистрации перемещений специальной иглы, находящейся в контакте с исследуемой поверхностью.

исследуемой поверхностью на расстоянии 100—150 мм (каждая головка исследует участок шириной 250 мм), схему обработки аналоговых сигналов, схему сопряжения и малую ЭВМ с печатающим устройством. Примененная аппаратура представляет собой комбинацию аналогового устройства, обрабатывающего оптические данные, и ЭВМ для обработки сигналов. Характер дефектов определяется по углу рассеяния света в достаточно большом интервале. В блоке памяти ЭВМ сохраняются сведения о дефектах для классификации, сортировки полосы. Данные о природе и распределении дефектов выдаются в процессе сортировки, • что отличает классификатор от многих других систем.

До начала исследования поверхность металла проверяемого участка котла (накладки заклепочного шва) должна быть хорошо очищена от окалины и ржавчины до металлического блеска. Зачистку производят с помощью металлической щетки, а в случае необходимости - напильником или наждачным камнем. Тщательная зачистка требуется для обеспечения хорошего контакта между щупом и исследуемой поверхностью металла.

Повышение чувствительности люминесцентного метода возможно за счет применения капиллярно-вакуумного способа, разработанного в Институте электросварки им. Е. О. Патона [49]. В случае применения этого способа над исследуемой поверхностью создают разрежение < 5 • 10* Па в течение 5—Юс. При этом в местах течей возникает результирующее давление воздуха, действующее на пенетрант в направлении выхода дефектов на поверхность. При сравнении чувствительности контроля герметичности сварных швов нахлесточных соединений стенки резервуара обычным люминесцентным и предложенным методами по количеству обнаруженных течей во втором случае было выявлено почти в 4 раза больше сквозных дефектов. Наблюдался быстрый рост индикаторных пятен в местах дефектов, а из отдельных течей пенетрант выходил в виде тонких струек. Швы проявителем не покрывали.

Рубашка имеет концентратор напряжений в виде поперечного отверстия диаметром 45 мм, поэтому трещина усталости развивается в обе стороны от отверстия вдоль образующей. Зазор d между входными торцами волоконно-оптических жгутов и исследуемой поверхностью согласно схеме, приведенной на рис. 3, б, не должен превышать 0,5 мм.

ператур или при воздействии среды, приведена на рис. 28. При использовании такой схемы осуществляют дистанционные наложение контрольного и рабочего растров 1, так как изображение рабочего растра, нанесенного на испытуемую деталь, смонтированную в захватах испытательной машины, проецируется объективами 2 и 3 в фокальную плоскость специальной фотокамеры 6, где устанавливается также контрольный растр 5. При совмещении изображений рабочего 4 и контрольного растров возникает картина муаровых полос, которую регистрируют фотокамерой 7. Применение такой оптической системы позволяет осуществлять измерение полей деформаций без остановки испытаний, причем испытуемый образец или элемент конструкции может быть размещен в нагревательной или климатической камере, имеющей соответствующее окно для наблюдения за исследуемой поверхностью и смонтированной на испытательной машине.

Рабочую часть образца для испытания подготавливают в виде шлифа для металлографических исследований. Статическое или циклическое нагружение образца осуществляется на испытательных установках, снабженных длиннофокусным оптическим микроскопом, позволяющим помещать деформируемый образец в ванну с коррозионной средой, а между объективом микроскопа и исследуемой поверхностью устанавливать измерительный микрокапилляр.

До начала исследования поверхность металла проверяемого участка котла должна быть хорошо очищена от окалины и ржавчины до металлического блеска. Зачистка производится с помощью металлической щетки, а в случае необходимости — с помощью напильника или наждачного камня. Тщательную зачистку, в частности, необходимо проводить для того, чтобы обеспечить хороший контакт между щупом и исследуемой поверхностью металла. Переходной контакт между щупом и поверхностью металла осуществляется с помощью машинного или трансформаторного масла, автола или смеси автола с солидолом. При контроле горячих барабанов пользуются более густым маслом, чтобы уменьшить его стекание с вертикальных поверхностей.

2. Рабочие концы (королек) термопары плотно закрепить на исследуемой поверхности путем зачеканки, припайки или приварки с таким расчетом, чтобы они имели одну точку соприкосновения с исследуемой поверхностью тела.

6. Приведенные данные позволяют указать нижний предел толщины граничной смазочной прослойки под алмазным острием в условиях наших опытов и соответствующее им удельное давление. Так как кажущееся сглаживание микрорельефа при омасливании происходит за счет различия толщины масляной пленки под алмазным острием над углублениями и выступами ощупываемой поверхности, то очевидно, что это сглаживание, а тем более его среднее значение Д, не может превышать величину максимальных толщин масляной прослойки между алмазным острием и исследуемой поверхностью.

Возможность метода можно расширить, если применить ОКГ с двусторонним выходом луча. Подобная схема (рис. 1, б) опробована в многочисленных экспериментах и показала высокую надежность работы. Отраженное исследуемой поверхностью излучение возвращается и проходит через ОКГ. Таким образом, из ОКГ выходит излучение, содержащее две частоты: опорную и частоту с информацией о перемещении поверхности. Эти частоты, попадая на ФЭУ, приводят к биениям. Главное преимущество такой схемы — простота. Отсутствие полупрозрачного и опорного зеркал повышает надежность измерения колебаний с амплитудой порядка нескольких микрометров. В черте города

образцов приводится во вращение. Печь приспособлена для испытаний образцов в различных газообразных средах, например, в воздухе, продуктах сгорания газа и в других подаваемых в печь газах. В связи с вращением образцов во время опыта принята особая форма образцов и конструкция их крепления в пазах вращаемого диска. Диск с образцами вращают водяной турбиной или электродвигателем через редуктор, что обеспечивает равномерное распределение газов в испытательном пространстве печи и одинаковость условий коррозии всех испытуемых образцов. По ГОСТ 1763—68 глубина обезуглероженного слоя стальных полуфабрикатов и деталей определяется металлографическими методами М, Ml (метод карбидной сетки), М2 (метод Садовского), методом замера термоэлектродвижущей силы, методом замера твердости (Т) и химическим методом (X). По методу М просматривают деталь под микроскопом при увеличении 63-^150 по всему краю травленого (до четкого выявления всех структурных составляющих стали) шлифа, плоскость которого должна быть перпендикулярна к исследуемой поверхности полуфабриката или детали. Общая глубина обезуглероживания включает зону пол-

Показателем при определении скорости коррозии весовым методом является показатель скорости коррозии Кмасс, представляющий собой отношение разницы между массой в исходном состоянии Яо и после коррозии gl к исследуемой поверхности 5 и времени испытания, т. е.

Смоченная бензолом сторона кубика полистирола (рис. 5.12) прижимается к шлифу на 5-10 с прессом или допускается прижим рукой. Полистироловый кубик как бы прилипает к шлифу и в таком положении остается на 1,5-2 ч. В течение этого времени полистирол затвердевает, и готовый оттиск снимается с исследуемой поверхности изделия. Эту операцию следует выполнять осторожно, так как из-за неполного испарения бензола полистирол некоторое время еще сохраняет свою пластичность и требует бережного обращения. Маркировка оттиска пером или иглой производится непосредственно после его снятия со шлифа. Через 15-20 минут полистирол окончательно затвердевает и становится устойчивым против механических повреждений. Для хранения реплик рекомендуется пользоваться фототекой. Срок хранения реплик - неограниченный.

Определение полей деформаций включает получение и регистрацию муаровых полос, их обработку, аппроксимацию и дифференцирование значений перемещений для определения деформаций. По картинам полос, полученным последовательно в трех направлениях линий эталонной сетки, находят три компоненты деформаций в плоскости исследуемой поверхности.

Преобразователи с П-образным магнитопроводом. Первичные преобразователи для неразрушающего измерения магнитных свойств с П-образным магнитопроводом получили наибольшее распространение. Для обеспечения постоянства магнитного сопротивления в месте соприкосновения полюсов электромагнита с поверхностью изделия электромагнит может быть выполнен из ряда не связанных друг с другом пластин, упруго прижимаемых каждая в отдельности к исследуемой поверхности. Таким образом, решается проблема влияния зазора на результаты измерений, являющаяся основной помехой при использовании всех без исключения приставных магнитоконтакгаых преобразователей. Известно, что изменение магнитного сопротивления зазора во столько раз больше влияет на резуль-

ионный ПРОЕКТОР - безлинзовый ионнооптич. прибор для получения увеличенного (в 106-107 раз) изображения поверхности твёрдого тела. Представляет собой конусообразную стек, колбу, дно к-рой (экран) покрыто слоем люминофора', в центре колбы расположен игольчатый электрод (объект исследования), окружённый кольцевым электродом. При создании между электродами разности потенциалов в неск. кВ атомы (или молекулы) газа ионизуются в тонком слое вблизи исследуемой поверхности. Возникающие при ионизации электроны уходят на остриё, а положит, ионы устремляются к экрану и бомбардируют его, вызывая свечение люминофора. В результате на экране воспроизводится распределе-

РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗАТОР - прибор для рентгеноспектрального анализа элементного состава в поверхностных слоях в-ва. Действие осн. на возбуждении харак-теристич. рентгеновского излучения при зондировании исследуемой поверхности сфокусир. пучком ускоренных электронов. P.M. состоит из электровакуумного прибора, в к-ром формируется узкий (диаметром до 1 мкм) пучок электронов (электронный зонд); рентгеновского спектрометра, разлагающего возбужденное рентгеновское излучение в спектр; блока детектора с мини-ЭВМ для обработки получ. информации. P.M. позволяет анализировать объекты на содержание хим. элементов (от лития до урана) с миним. размерами исследуемой области до 0,01-0,1 мкм при относит, погрешности до 10%. РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОСКОП - прибор для исследования микроскопич. строения объектов с помощью рентгеновского излучения. Действие P.M. осн. на явлении полного внеш. отражения зеркальной поверхностью или кристаллографич. плоскостями рентгеновских лучей (отражательный P.M.). В P.M. используют также теневую проекцию объектов (проекционный, или теневой P.M.). В проекционных P.M. объект располагается вблизи точечного источника рентгеновского излучения (микрофокусной рентгеновской трубки). Расходящийся пучок рентгеновских лучей просвечивает образец и формирует на удалённой от него фотоплёнке уве-лич. изображение. Линейное разрешение проекц. P.M. достигает 0,1-0,5 нм.

поверхности твёрдого тела. Представляет собой сферич. или конусообразную стек, колбу, дно к-рой (экран) покрыто слоем люминофора; в центре колбы помещается катод (исследуемый объект) в виде острия, анодом служит проводящий слой на внутр. стенках колбы или проволочное кольцо вокруг катода. При создании между анодом и катодом разности потенциалов в неск. кВ с кончика острия возникает интенсивная автоэлектронная эмиссия. Электроны ускоряются и бомбардируют экран, вызывая свечение люминофора; в результате на экране воспроизводится распределение плотности электронного тока, отражающее в увелич. масштабе кристаллич. структуру исследуемой поверхности острия. Предельное разрешение Э.п. 1 нм. Э.п. применяются преим. для изучения автоэлектронной эмиссии металлов и ПП, определения работы выхода электронов с разных граней монокристалла и т.п. ЭЛЕКТРОННЫЙ ПРОЖЕКТОР - электроннооптич. устройство, предназнач. для формирования неинтенсивного электронного пучка и управления его током. Состоит из катода, модулятора и одной или неск. электронных линз. Один из осн. элементов электронного микроскопа и электроннолучевого прибора.

(при удалении продуктов коррозии) к исследуемой поверхности S и за время т , т. е.

Одним из недостатков определения величины износа методом мик-рометрирования является трудность измерения исследуемой поверхности в одном и том же месте до и после испытаний. В целях преодоления этого недостатка применяют различные приспособления и шаблоны.

Метод отпечатков дает возможность установить величину наноса в заранее выбранном месте исследуемой поверхности трения. Точно измеряя с помощью микроскопа диагональ отпечатка до и после работы (испытания), можно довольно часто определять весьма малые, порядка доли микрометра, величины линейного износа.