Излучения поверхностей

ЭЙНШТЕЙН [по имени физика А. Эйнштейна (A. Einstein; 1879-1955)] -внесистемная спец. ед. молярной энергии электромагн. излучения, применяемая иногда при исследовании фотохим. процессов. Имеет разное значение, зависящее от частоты излучения, поскольку 1 Э. равен произведению Авогадро постоянной Л/д на энергию фотона /TV, где h - Планка постоянная, v - частота излучения. ЭКВАЛАЙЗЕР (англ, equalizer, от equalize - уравнивать) - радиоэлектронное устройство, позволяющее независимо регулировать амплитуду звуковых колебаний в неск. (обычно 6-12) частотных диапазонах. Обеспечивает требуемое качество звучания независимо от частотных хар-к звуковоспроизводящей аппаратуры и аку-стич. св-в помещения, где идёт прослушивание записи. Обычно входит в состав высококачеств. стереофо-нич. звукотехн. комплексов. Осн. элементы: устройство широкополосной частотной коррекции, содержащее обычно 6-12 регуляторов тембра, к-рые обеспечивают независимую регулировку амплитуды в соответствующих диапазонах (полосах) воспроизводимых частот; анализатор спектра звуковых сигналов; транзисторный индуктор - электрич. аналог фильтра, представляющий собой совокупность резистивных транзисторных усилителей, охваченных резистивно-ёмкостной обратной связью. Совр. Э. обеспечивают частотную коррекцию на частотах от 16 Гц до 32 кГц. Иногда Э. применяют при записи звука, чтобы выделить наиболее интересный частотный диапазон муз. инструмента, получить требуемый звуковой эффект.

Эти нелинейные артефакты, однако, не следует смешивать с влиянием немоноэнергетичности используемого излучения, поскольку они сохраняются и при моноэнергетическом приближении.

Оценку степени удаления золовых отложений с труб топочных экранов в циклах водной очистки можно провести при помощи истинного значения коэффициента тепловой эффективности экранов ty и теплового сопротивления отложений R. При этом величина 15 рассчитывается как соотношение воспринятых экранами и падающих на них тепловых потоков с вычетом потока обратного •излучения от золовых отложений. Таким образом, •$ показывает долю воспринимаемого экранами потока теплоты от падающего излучения. Поскольку уменьшение тепловосприятия .топки со временем происходит из-за загрязнения экранных труб эоловыми отложениями, определенный таким образом истинный коэффициент тепловой эффективности экранов характеризует процесс загрязнения более четко, чем коэффициент, учитывающий загрязнение топочных экранов по нормативному методу теплового расчета ifa- Зная истинный коэффициент

Поскольку g прямо пропорциональна мощности дозы излучения R, то величина радиационно-индуцированного тока также прямо пропорциональна R.

Практическое осуществление сжатия вещества с последующим инициированием термоядерной реакции в центральной части топлива стало реальным после того, как советские ученые предложили использовать сферические мишени с оболочечной структурой. В этом случае не требуется специальное профилирование импульса лазерного излучения, поскольку необходимый режим процессов обеспечивается самой структурой мишени. Такой подход положен в основу всех экспериментальных исследований. К настоящему времени созданы простые оболочечные мишени с удовлетворительными параметрами и ведутся работы по созданию мишеней с более сложной структурой. Основные трудности связаны с обеспечением однородности облучения мишеней; достигнутый здесь уровень пока недостаточен.

попадает в интерферометр Фабри—Перо 4 и далее на приемник 3 для измерения спектрального распределения прошедшего излучения. Поскольку интерферометр имеет разрешение порядка 5-Ю"4 нм, а ширина полосы излучения органического лазера 2,5-КГ2 нм, то описанный спектрометр может определять контур полосы поглощения с очень высокой точностью. Временное разрешение индуцированной флуоресценции регистрируется блоком 8, перед которым находится ограничивающий фильтр Ф2, в то время как блок 7 регистрирует широкий спектр, излучаемый плазмой. Спектрограф 5 в данной схеме служит для настройки органического лазера на линию поглощения составных частей плазмы, при этом используется лампа с полым катодом 6.

а) Приближение радиационной теплопроводности для спектрального излучения. Поскольку в приближении радиационной теплопроводности среда предполагается находящейся в состоянии локального радиационного равновесия, то уравнение энергии позволяет установить однозначную связь между температурой среды и объемной плотностью излучения в каждой точке рассматриваемого объема. Действительно, полагая для спектрального излучения наличие локального радиационного равновесия в среде (т]рез v = 0), на основании уравнения энергии (3-21) получаем:

ну черной пластины возвращается отраженная энергия (1 — Лх) 8/?0 ,. Эта энергия в транзите сквозь фильтр более не участвует, поглощаясь полностью черной пластиной. Сквозь фильтр в сторону черной пластины проходит еще 8 ?\ — часть испускаемой нечерной пластиной энергии. Она также полностью поглощается черной пластиной и в дальнейших превращениях не участвует. Следовательно, сквозь фильтр в одну сторону проходит энергия 8 ?ft x и в другую сторону — энергия (1 — Лх) 8 ?„>х-[- 8 ?\. Поскольку в результате взаимного излучения абсолютно черной и нечерной пластин, имеющих равные температуры, передача тепла должна отсутствовать, транзит энергии сквозь фильтр в обоих направлениях должен быть одинаковым, т. е. Абсолютно Ф черная о.Е0 х = (1 —Лх) 8?0 х -4-8.Е,,

Защита элементов забрасывателей от топочного излучения. Поскольку забрасыватель подвергается действию топочного излучения, то необходимо специально охлаждать его корпус и другие элементы во всех местах, где возможен сильный нагрев. В конструкциях ряда фирм боковые стенки и верхняя часть корпуса, а иногда также лоток имеют водяное охлаждение, для чего они снабжены соответствующими рубашками (рис. 5-11, 5-12 и 5-17). Здесь, конечно, обеспечивается очень надежная защита от нагрева, но забрасыватель получается сложным в изготовлении и неудобным с точки зрения сборки и разборки; кроме того, габариты его увеличиваются.

Накал излучателя регулировался с помощью лабораторного автотрансформатора, питаемого стабилизированным напряжением. Потребляемая излучателем мощность определялась по показаниям ваттметра, по ней фактически судили о плотности излучения, поскольку расстояние от баллона к датчику оставалось фиксированным.

Сверхвысокочастотное излучение сравнительно далеко распространяется в свободном пространстве и оператор может попасть в зону излучения. Поскольку СВЧ-излучение оказывает влияние на биологические объекты, должны соблюдаться определенные санитарные нормы и правила техники безопасности.

Установим теперь между поверхностями экран в виде тонкого металлического листа. Температура на обеих сторонах экрана будет одинаковая Тэ, коэффициент излучения обеих поверхностей экрана для простоты также примем одинаковым и равным коэффициенту излучения поверхностей I и II. Тогда приведенный коэффициент излучения между каждой из поверхностей I и II и соответствующей поверхностью экрана будет равен [С], определяемому по формуле (7-16).

Вывод (5-13) основан на рассмотрении явления многократных поглощений и отражений потоков собственного излучения поверхностей. Тот же результат может быть получен более коротким путем, если использовать понятие эффективного излучения поверхности. Лучистый теплообмен между поверхностями определяется согласно (5-12) разностью потоков эффективного излучения

Когда спектры излучения поверхностей значительно отличаются от серого излучения, расчет по формуле (5-14) неправомерен; он может приводить к значительным погрешностям. В этом слу--

Вывод уравнения (5-13) основан на рассмотрении явления многократных поглощений и отражений потоков собственного излучения поверхностей. Тот же результат может быть получен более коротким путем, если использовать понятие эффективного излучения поверхности. Лучистый теплообмен между поверхностями определяется согласно уравнению (5-12) разностью потоков эффективного излучения:

Когда спектры излучения поверхностей значительно отличаются от серого излучения, расчет по формуле (5-14) неправомерен, он может приводить к значительным погрешностям. В этом случае необходимо знать спектральную плотность потока излучения Ек и поглощательную способность А^ тел при соответствующих температурах Тг и Т2. Эти сведения могут быть получены экспериментальным путем. Расчет лучистого теплообмена между такими плоскостями проводится по соотношению

где е — термоэмиссионная ЭДС — величина, аналогичная термоэлектрической ЭДС а; Я,а — коэффициент теплопроводности проводника «а»; А — коэффициент излучения поверхностей катода и анода. Величина Z' определяется свойствами поверхностей, излучающих и поглощающих электроны, свойствами проводников, их поперечным сечением, температурой и высотой барьера, создаваемого пространственным зарядом. Для ТЭлГ

При определении собственной энергии излучения поверхностей нагрева казалось бы следует принять во внимание, что они, будучи серыми, испускают излучение по всем длинам волн. Однако испу-

Последнее допущение значительно упрощает выводы всех формул и вместе с тем не вносит в них существенной погрешности, в чем можно убедиться на следующем примере. Рассмотрим лучистый теплообмен между двумя параллельными плоскостями достаточно большого размера, установленными таким образом, что все лучи падают только на их поверхности (рис. 3-12). Обозначим: Т\, Т2 — абсолютные температуры плоскостей в установившемся состоянии тепловых потоков, °К; Сь с2 — постоянные излучения поверхностей; г\, 82 — соответствующие коэффициенты поглощения.

При такой постановке задачи определение результирующего излучения поверхностей FI и Р3 серьезно усложняется. В целях большей наглядности рассмотрим приближенную математическую формулировку задачи, когда поверхность F2 делится на п равных участков Aft (рис. 12-4). При этом предполагаем, что каждый участок имеет свою постоянную температуру 7\ и находится в тепловом равновесии с остальной системой.

Случай 1. Выделим из спектра излучения поверхностей FI и F2 участок dK и определим результирующее излучение тел в пределах этого спектрального участка. Если температуры этих поверхностей Т1 и Т2 заданы, то его можно определить на основе следующей системы уравнений, составленной в соответствии с методом сальдо Г. Л. Поляка [Л. 114]:

Случай 1. Выделим на спектре излучения поверхностей FI, F2 и F3 участок dX. Для определения результирующего излучения этих тел в пределах выделенного спектрального участка можно, как и в системе из двух тел, воспользоваться методом сальдо и составить систему уравнений, аналогичную системе уравнений (10-2) — (10-5):