Излучения позволяет

На практике часто одна теплообмен-ная поверхность полностью охватывается другой (рис. 11.3). В отличие от теплообмена между близко расположенными поверхностями с равными площадями здесь лишь часть излучения поверхности Ft попадает на F\. Остальная энергия воспринимается самой же поверхностью FI- Тепловой поток, передаваемый излучением от внутреннего тела к внешнему, можно также определить по (11.16), если вместо F подставить поверхность меньшего тела FI, а степень черноты системы определить по формуле

Максимум излучения поверхности Земли в интервале температур 223 — 323 К в мировое пространство имеет место (согласно закону Вина) в пределах значений XM3= 13-т-Э мкм, т. е. излучение Земли — длинноволновое и отчасти совпадает с полосой поглощения энергии излучения углекислым газом (табл. 11.1).

Вычислить плотность собственного излучения поверхности изделия и длину волны, которой будет соответствовать максимальное значение спектральной интенсивности излучения.

Теперь остановимся на важном обстоятельстве. Целью описанного выше имитационного эксперимента являлось определение разрешающих угловых коэффициентов, и поэтому в нем фиксировалось число актов попаданий. Если же ставить целью определение результирующих потоков, то можно фиксировать и акты поглощений. Тогда мощность P/f.™ поглощаемого на поверхности S,- собственного излучения поверхности Sj находится по формуле

Через паровую пленку кроме теплоты за счет конвекции и теплопроводности может проходить теплота и за счет лучистого теплообмена. Поэтому на коэффициент теплоотдачи влияют еще коэффициенты излучения поверхности теплообмена, поверхности жидкости, а также излучающие свойства самого пара. Доля лучистого переноса теплоты

Зависимости (17-9) и (17-12) показывают, что результирующий поток прямо пропорционален приведенному коэффициенту излучения, поверхности тела и разности температур в четвертых степенях. В процессах же теплопроводности и конвекции тепловой поток пропорционален разности температур в первых степенях. Этим обстоятельством объясняется более значительное влияние лучистого теплообмена по сравнению с указанными процессами при высоких температурах.

где q>ft,i — средний угловой коэффициент излучения поверхности i на поверхности А=1, . . ., л; 9pe3i измеряется в Вт/м2.

Зависимости (17-87) и (17-88) последовательно применяются к каждой поверхности t=l, . . ., п. При этом средние угловые коэффициенты излучения рассматриваются как заданные величины.

Вывод (5-13) основан на рассмотрении явления многократных поглощений и отражений потоков собственного излучения поверхностей. Тот же результат может быть получен более коротким путем, если использовать понятие эффективного излучения поверхности. Лучистый теплообмен между поверхностями определяется согласно (5-12) разностью потоков эффективного излучения

Вывод уравнения (5-13) основан на рассмотрении явления многократных поглощений и отражений потоков собственного излучения поверхностей. Тот же результат может быть получен более коротким путем, если использовать понятие эффективного излучения поверхности. Лучистый теплообмен между поверхностями определяется согласно уравнению (5-12) разностью потоков эффективного излучения:

3 В советской литературе парниковый эффект трактуется как нагрев внутренних слоев атмосферы, обусловленный прозрачностью атмосферы для основной части излучения Солнца (в оптическом диапазоне) и поглощением атмосферной основной (ИК) части теплового излучения поверхности Земли, нагретой Солнцем. (При :<еч. ред.).

наименьшую зону термического влияния. С помощью лазерной сварки можно получать высококачественные соединения деталей из коррозионно-стойкой стали, никеля, молибдена и др. Высокая мощность лазерного излучения позволяет сваривать материалы с высокой теплопроводностью (медь, Рис. 18.4. Профиль ка-серебро). Для материалов, плохо поддаю- нала волочения в ал-щихся сварке другими методами (вольфрам шзнои фильере:

собств. теплового излучения нагретых тел. Наиб, распространены оптич. П. Такой П. состоит из оптич. системы (объектив, окуляр, диафрагма и мо-нохроматич. светофильтр), поглощающих стёкол, пирометрич. лампы и электроизмерит. прибора. Пирометрич. лампа служит эталоном измеряемой яркостной темп-ры. Монохрома-тич. светофильтр (красный) позволяет рассматривать в лучах определ. цвета нить лампы на фоне изображения раскал. тела. Пределы измерений темп-ры оптич. П. 800-6000 "С. Используются также радиационные, термоэлектрич. и др. П. В пром-сти П. применяют в системах контроля и управления температурными режимами в металлургии, плазменных технологиях и др.

жения инфракрасного излучения. Типичный П. - турмалин. ПИРОЭЛЕКТРИЧЕСТВО (ОТ греч. руг -огонь) - возникновение электрич. зарядов на поверхности нек-рых кристаллич. диэлектриков (пироэлек-т р и к о в) при их нагревании или охлаждении. Поверхностная плотность возникающего электрич. заряда прямо пропорциональна скорости изменения темп-ры. Пироэлектрич. эффект используют для обнаружения ИК излучения (позволяет регистрировать изменения темп-ры с точностью до 10"6 °С).

Высокая мощность лазерного излучения позволяет использовать в ОНК нелинейные оптические явления, в том числе параметрическую перестройку частоты излучения, самофокусировку света, активную спектроскопию когерентного рассеяния и др. Становится возможным активный оптический контроль, когда дефектные места объекта (дефекты топологии ИС и т. п.) могут локально удаляться испарением под действием луча ОКГ.

Применение когерентного излучения позволяет эффективно использовать возможности оптических элементов как преобразователей спектра поступающего двухмерного сигнала и создавать принципиально новые методы контроля материалов и изделий. Исследуемая поверхность объекта освещается расходящимся лазерным пучком, структура которого формируется диффузной поверхностью. Пучок, отраженный от поверхности, фиксируется на фотопленке, установлен-

Предпочитают работать с v-изотопами, выбирая при прочих равных условиях изотоп с максимальной энергией фотопика. Линейчатый характер спектра у-излучения позволяет с помощью соответствующей ядерно-физической аппаратуры анализировать сложную смесь радиоизотопов без их предварительного химического разделения. Тем самым упрощаете^ .количественное определение в продуктах коррозии одновременно нескольких элементов.

Общим для способов введения радиоизотопов в образец за счет ядерных реакций является то, что активироваться могут не только те составляющие его элементы, которые представляют интерес для данного коррозионного исследования, но и другие присутствующие -• элементы, включая примесные. Кроме того, при облучении возможно образование нескольких радиоизотопов одного элемента, а также дочерних радиоактивных продуктов распада первично возникающих радиоизотопов. Все это усложняет у-спектр, соответственно затрудняет селективный анализ и во многих случаях рассматривается как недостаток, тем более что при большем сечении ядерных реакций на примесных элементах и не слишком большом (но и не очень малом) времени полураспада возникающих в в их радиоизотопов вклад примесей в суммарную наведенную радиоактивность может оказаться значительным даже при относительно низком содержании их в образце. Однако рациональный выбор условий .радиоактивации образцов, измерительной аппаратуры и режима регистрации излучения позволяет обычно избежать осложнений при анализе.

В радиометрической дефектоскопии, как и при других методах контроля, к источникам излучения предъявляется требование высокой удельной активности. Это ограничивает изотопы, которые могут применяться в радиометрических дефектоскопах. Однако и из существующих изотопов до сих пор использованы не все. Увеличение набора энергии излучения позволяет расширить круг решаемых задач. Так, например, н« в одном радиометрическом дефектоскопе не используется источник излучения 1921г. Недостаток этих источников — малый период полураспада, однако высокая удельная актив-

Известно, что поглощение света металлами намного сильнее в видимых лучах, а малая длина волны излучения позволяет получить пятно в фокусе с высокой плотностью. Однако поверхностное поглощение увеличивается с ростом температуры металла и образованием на поверхности окисных пленок [101].

Изотропность равновесного излучения позволяет установить однозначную связь спектральной поверхностной плотности равновесного излучения EQv, а также спектральной объемной плотности энергии равновесного излучение t/0v со спектральной интенсивностью равновесного излучения /Ov. Эти величины на основании (1-78), (1-82) и (2-4) получаются следующими:

Соответствующая математическая обработка данных по спектральной прозрачности ослабляющей среды (зависимости е от А/ падающего излучения) позволяет получить информацию о распределении частиц по размерам и их концентрации.