Измерения импеданса

Ограничение чувствительности интерферометра связано с шу-мом фотоумножителя. В результате (см. задачу 1.5.4) чувствительность при приеме в 500 раз меньше, чем при использовании оптимального ПЭП. Кроме того, интерферометр — это довольно сложное, громоздкое, чувствительное к помехам устройство. В связи с этим лазерный способ приема находит применение лишь в исследовательских целях, например для точного измерения характеристик акустического поля или скорости звука в материалах. В дефектоскопии его применяют для визуализации колебаний больших участков поверхности при теневом методе контроля.

науки и техники, охватывающая изучение методов, разработку и создание средств для получения опытным путём информации о величинах, характеризующих св-ва и состояние исследуемых объектов (напр., явлений природы, производств, процессов). Совр. И.т. имеет ряд направлений в соответствии с областями применения измерит, приборов и типами измеряемых величин: линейные и угловые измерения; механич., оптич., акустич., теплофизич., физико-химич., измерения; электрич. и магн. измерения; радиоизмерения; измерения частоты и времени; измерения иалуче-ний и т.д. Отдельно существуют отрасли И.т., отличающиеся особым подходом к процессу измерения или его целью; напр., телеметрия (измерение на расстоянии) - в рамках этой отрасли имеется ещё радиотелеметрия, включающая в себя космич. радиотелеметрию; измерения характеристик случайных процессов - амплитудных распределений, корреляц. функций и спектров мощности; электрич. измерения неэлектрич. величин; цифровая И.т., включающая аналого-цифровое преобразование для ввода измерит, информации в ЭВМ и др. См. также Метрология.

ность измерения характеристик материала при малых значениях влаго-содержания и массы образца. '

Приборы для измерения характеристик состава и структуры материалов .... 170

ПРИБОРЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК СОСТАВА И СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ

Приборы для измерения характеристик структуру

Приборы для измерения характеристик структуры

Приборы для измерения характеристик структуры

— электрические для измерения характеристик состава и структуры материалов 170, 175-177

Деформация образцов при высокотемпературных испытаниях наиболее просто определяется по перемещению подвижного захвата микромашины. Такой метод является основным при испытаниях малых образцов, проволок, фолы. Для более точного измерения характеристик пластичности нами разработано и применяется несколько специальных способов и устройств [42—44], которые также основаны на записи перемещения подвижного захвата машины.

Ограничение чувствительности интерферометра связано с шумом фотоумножителя, соответствующим смещению поверхности зеркала на 5-10~12 м. Считаем, что регистрируемое смещение в 2 раза превосходит это значение, т. е. и' = 10~1Х м. Таким образом, чувствительность интерферометра при приеме в 100 раз меньше, чем при использовании пьезоэлектрического преобразователя. Кроме того, интерферометр — довольно сложное, громоздкое, чувствительное к вибрации устройство. В связи с этим он находит применение лишь в исследовательских целях, например, для точного измерения характеристик пьезопреобразова-телей в абсолютных единицах или скорости ультразвука в материалах.

Рис. 39. Схема электрического моста для измерения импеданса полимерного покрытия : Z/, Z? - импедансы плеч электрического моста; Zj - регулируемый импеданс; Z» - импеданс электрохимической ячейки; О - осциллограф: Г - генератор переменной частоты

текания анодного тока. После прекращения подачи тока последействие не имело места, что исключает какую-либо роль поверхностных барьеров типа пленок или нагромождений дислокаций в наблюдаемом эффекте. Измерения импеданса электрода (дифференциальной емкости и сопротивления) во всем исследованном диапазоне потенциалов анодной поляризации (—0,6-7-1,0 В по * н. в. э.) не показалл существенного изменения емкости и заряжен-ности двойного слоя, что исключает здесь влияние изменения поверхностной энергии в результате изменения поверхностного заряда электрода.

Самый распространенный метод коррозионно-элект'рохими-ческих исследований — это метод снятия поляризационных зависимостей (кривых). Известны два способа их получения: гальваностатический и потенциостатический. Первый сводится к определению потенциала металла при пропусканий между исследуемым металлом и платиновым электродом электрического тока. Получив ряд значений потенциалов для данных плотностей поляризующего тока, строят поляризационную зависимость. Потенциостатический способ снятия поляризационных зависимостей сводится к искусственному поддержанию электрода при заданном или изменяющемся с нужной скоростью потенциале (скоростью развертки). При этом фиксируется изменение величины поляризующего тока. В настоящее время для снятия гальваностатических и потенциостатических поляризационных кривых используются специальные приборы — потенциостаты, серийно выпускаемые промышленностью, в которых все операции автоматизированы. Величины, тока или потенциала записываются самописцем. Потенпиоста-чческие зависимости характеризуют кинетику электродных процессов. G их помощью можно определить потенциалы начала и конца пассивации, оценить величину защитного тока при катодной защите и др. . Для коррозионно-электрохимических исследований в последнее время с успехом применяется метод измерения импеданса (полного сопротивления) двойного электрического слоя, возникающего на границе раздела корродирующий металл-электролит (измерения производят серийно выпускаемыми мостами переменного тока). Это дает возможность изучить кинетику коррозионных процессов, оценить эффективность в данных условиях исследуемых ингибиторов коррозии или же лакокрасочных

Аппаратура для измерения импеданса........

Аппаратура для измерения импеданса

Аппаратура для измерения импеданса

Основная погрешность измерения импеданса связана с неидеальностью характеристик вибровозбудителя, датчиков, а также связей их с- объектом.

Аппаратура для измерения импеданса

— для измерения импеданса 449—454

— Упругий элемент, 353, 358, 359 Датчики силы для измерения импеданса 452

Варианты А и Б (с использованием сопровождающих фильтров) требуют боль ших затрат времени на анализ (время измерения импеданса одной точки в диапазоне 20—5000 Гц с фильтрами полосой А/ = 10 Гц порядка 15 мин). Схема В с цифровым анализом позволяет производить измерения при значительно более быстром изменении частоты