Измерения отношения

2) систему для измерения от исходной плоскости FT К, представляющей собой базу для измерения отклонения профиля;

Рамку располагают горизонтально (допускается и вертикально) и соединяют с элементом, к которому относится допуск, сплошной тонкой линией, заканчивающейся стрелкой. Соединительная линия может быть прямой или ломаной, но направление отрезка соединительной линии, заканчивающегося стрелкой, должно соответствовать направлению измерения отклонения га Д-i JT™ ^с/Г

* Направление отрезка соединительной линии, заканчивающегося стрелкой, должно соответствовать направлению линии измерения отклонения.

На рис. 17 приведена схема измерения отклонения от прямолинейности с помощью поверочной плиты (ГОСТ 10905—75) и измерительной головки. Проверяемую деталь 2 устанавливают так, чтобы две точки проверяемого отрезка находились на одинаковом рас-

Рио. 17. Схема измерения отклонения от

Рис. 18. Схема измерения отклонения от прямолинейности линии пересечения двух плоскостей

На рис. 19 приведена схема измерения отклонения от плоскостности. Отклонение от плоскостности определяют как разность между наибольшим и наименьшим показанием измерительной головки при перемещении последней над всеми точками проверяемой поверхности. При измерении плоскостности с помощью поверочных линеек определяют отклонения от прямолинейности в отдельных сечениях поверхности.

Рис. 20. Схема измерения отклонения от прямолинейности с помощью уровня: / — мостик; 2 — уровень; / — шаг измерения

Риа. 24 Схемы измерения отклонения от круглости на кругло-мерах:

На рис. 25 показана схема измерения отклонения от круглости в кольце. При этом внутренний диаметр кольца 2 должен быть равен диаметру прилегающей окружности. При измерении вращают кольцо или деталь / и определяют наибольшее отклонение стрелки измерительной головки 3. Овальность и четную огранку измеряют двухконтактными измерительными приборами. При этом овальность и огранку с четным числом граней определяют как полуразность между наибольшим и наименьшим диаметром сечения {см, табл, 19), измеренным в трех направлениях через 60 °.

Исследования проводились методом свободных, затухающих колебаний. Измерению подвергался каждый пакет ступени. Для наблюдения за изменением демпфирующей способности одних и тех же пакетов каждый из них отклонялся на одну и ту же величину. Пакеты предварительно нумеровались. Для испытаний ротор вынимался из корпуса турбины и ставился на козлы. Схема расположения приборов и приспособлений представлена на рис. 71. Лопатка 4 в пакете с припаянными проволоками изгибалась рычагом 6' на определенную величину, измерявшуюся индикатором 5. После измерения отклонения индикатор убирался. Ударом рычаг 6 мгновенно поворачивался в шарнпре А и освобождал лопатку 4, в результате чего возникали свободные колебания пакета. Измерение декрементов колебаний производи-144

Рве. 1S.1. Прибор Дж. Дж. Томоона (1897 г.) для измерения отношения elm.

ЛОГОМЕТР [от греч. logos - слово, здесь - (со)отношение и ...метр] -механизм приборов для измерения отношения двух электрич. величин (обычно сил токов). Л. бывают магни-тоэлектрич., электро- и ферродина-мич. и электромагнитные. Подвижная часть наиболее распростр. маг-нитоэлектрич. Л. состоит из двух элементов, обычно катушек (/ и 2), в к-рых электрич. величины, образующие измеряемое отношение, создают встречные вращающие моменты (М-\ и М2>, при равенстве к-рых наступает равновесие. Находясь в поле пост, магнита, катушки стремятся

Анализ приведенных расчетных соотношений показал, что наименьшая погрешность определения коэффициента температуропроводности имеет место при Pd~9, что соответствует отношению амплитуд в расчетных точках, равному двум. Положение центральной термопары практически не вносит ошибок в измерения. Так, при отклонении ее от оси на 15% и при оптимальном значении Pd погрешность измерения отношения амплитуд составит величину, меньшую илк равную 0,1%.

Ошибка при определении основного компонента металла методами химического анализа не позволяет надежно определять второй и третий знаки после запятой и, следовательно, оценивать чистоту металла. Более надежно оценивать ее методом измерения отношения электросопротивления при обычной и гелиевой температурах.

Широкое распространение в бетатрон-ной и рентгеновской дефектоскопии получили схемы, основанные на измерении разности усредненных с помощью диодов и интегрирующих звеньев импульсов первого и второго сцинтилля-ционных детекторов (рис. 7). Существенным недостатком этих схем является необходимость выбора параметров интегрирующих звеньев строго одинаковыми. В противном случае при нестабильно работающем ускорителе точность определения степени дефектности контролируемого изделия не может быть высокой. Этот недостаток устраняется при сравнении амплитуд импульсов сцинтилляционных детекторов, пропорциональных дозе в импульсе излучения с их предварительным преобразованием, которое осуществляется с помощью зарядного устройства и ключа (рис. 8). Управление ключом производят таким образом, чтобы длительность получаемых импульсов равнялась половине периода следования импульсов излучения. Благодаря предварительному преобразованию формы импульсов сцинтилляционных детекторов повышаются быстродействие и помехоустойчивость дефектоскопов как при вычитающей схеме, так и при схеме измерения отношения.

зованием сцинтилляционных детекторов, в том числе и дефектоскопов, в первую очередь определяется стабильностью параметров детекторов. Однако в двухканальном дефектоскопе, работающем по схеме измерения отношения напряжений или логарифма отношения двух напряжений, нет необходимости сохранять параметры фотоумножителей строго стабильными, достаточно поддерживать их одинаковыми. В дефектоскопе со схемой стабилизации питания ФЭУ контрольные импульсы расположены между импульсами излучения бетатрона. После разделения рабочих и контрольных импульсов последние, сравниваются по амплитуде и управляют напряжением питания одного из фотоумножителей таким образом, чтобы параметры обоих каналов измерения оставались одинаковыми. Электрические сигналы с детектора необходимо рассматривать как случайные величины. В случае радиоактивного источника случайной величиной является число импульсов за определенный промежуток времени, в случае регистрации тормозного излучения ускорителей — амплитуда импульса с детектора. В первом случае случайная величина распределена по закону Пуассона, во втором — по логарифмически нормальному закону. В том и другом случае с изменением измеряемого параметра (плотности или толщины) изменяется распределение сигнала на выходе детектора.

скими характеристиками (например, в высокопрочных чугунах с пластинчатыми или сфероидальными графитными включениями), наблюдается зависимость скорости продольных волн GI от формы включений. На рис. 89 по оси абсцисс отложено отношение скорости продольных волн в данном материале к скорости продольных волн в стали 40; частота 2,5 МГц; ноль соответствует наличию только пластинчатого графита. Подобная зависимость может быть получена также путем измерения коэффициента затухания а на различных частотах, однако измерение скорости обеспечивает большую точность в определении содержания включений, особенно при частотах до 5 МГц. Для некоторых сплавов разрешающую способность определения структуры можно существенно повысить путем измерения отношения а/с.

Тип Диапазон частот, МГц Диапазон измерения * отношения амплитуд, дБ Сортамент изделий и размеры, мм Материал D, баллы Режим измерения Примечание

В практике неразрушающего контроля наиболее широко используют ручные импульсные ультразвуковые дефектоскопы 2-й и 3-й групп общего или специального назначения. Общим для этих дефектоскопов является наличие электронно-лучевого и звукового индикаторов, электронного глубиномера для определения координат залегания отражающей поверхности, аттенюатора для измерения отношения амплитуд сиг налов в децибелах.

В УЗ-дефектоскопах измерительные аттенюаторы выполняют, как правило, путем цепочечного соединения звеньев на резисторах с изменением вносимого затухания путем переключения звеньев. Общее затухание, установленное на аттенюаторе, равно сумме затуханий, определяемых положением ручек аттенюатора. Точность аттенюатора характеризуют пределом допускаемой абсолютной погрешности измерения отношения амплитуд сигналов на входе приемника, которая в современных дефектоскопах не превышает 1 ... 2 дБ.

Интерферометрический метод. В этом оптическом методе применен луч монохроматического света, который направлен на границу между покрытием и основным слоем точно таким же образом, как в микроскопическом методе исследования с помощью светового потока. Но вместо измерения отношения отраженного луча микроскоп используется для установления количества интерференционных колец, создаваемых при рассеивании света под действием уступа на границе покрытия. Число колец, умноженное на половину длины волны использованного •светового луча, составляет толщину покрытия.