Интенсивности светового

Подучена математическая модель рентгеновского излучения, позволяющая рассчитать распределение интенсивности по глубине кана-ла в зависимости от фазы его формирования. Экспериментальные исследования подтвердили адекватность математической модели. Анализ шлифов Сварного шьа показал, что усредненное во времени распределение интенсивности рентгеновского излучения соответствует форме проплава. Это указывает на то, что рентгеновские излучение является мерой распределения анергии но каналу процлавления.

тоскопия, методы к-рой осн. на разл. поглощении рентгеновского излучения при распространении его на одинаковое расстояние в разл. средах. Для просвечивания изделий применяют рентгеновские трубки (для изделий толщ, до 80 мм из стали, толщ. 250 мм из лёгких сплавов) и бетатроны (для стальных изделий толщ, до 500 мм). Регистрация интенсивности рентгеновского излучения производится фотогр., визуальным, ксеро-графич. или ионизац. методами. Р. позволяет обнаружить раковины, трещины и др. дефекты преим. в литых изделиях и в сварных соединениях.

Рис. 7. Зависимость интенсивности рентгеновского из-' лучения от тока (а) и напряжения (о"):

где \i (х, у, г) — искомое распределение ЛКО по контролируемому объекту; р (г, ф, z) — измеряемая проекция как функция расстояния от начала координат в плоскости z = const под углом ср к оси у; /0 (г, г) — распределение интенсивности рентгеновского излучения в проецирующем пучке в отсутствие объекта; к (г, z) — изменение чувствительности по входной апертуре детектора; г — расстояние от оси z до каждого проецирующего луча: г = х cos
мера зерен и увеличение микродеформаций приводят к уширению рентгеновских пиков. Степень уширения оценивается по полуширине пика или с помощью отношения интегральной интенсивности рентгеновского пика к его высоте (интегральная ширина).

тельной максимальной интенсивности рентгеновского пика (200) в сравнении с соответствующей интенсивностью рентгеновского пика (111) в следующей последовательности: исходный порошок (~ 0,5) ->• порошок, измельченный в шаровой мельнице (~ 0,3),-> массивный наноструктурный образец Ni, полученный консолидацией порошка ИПД (~ 0,1) (рис. 1.38). При этом стандартное значение для хаотической ориентации зерен равно 0,42.

Из формулы (38) следует, что путем измерения интенсивности рентгеновского излучения за образцом можно исследовать изменение площади надреза во времени. При одновременной записи действующей на образец нагрузки получаем зависимость нагрузка — изменение площади надреза, имитирующего реальный дефект в материале.

Рентгеновское и у-излучения охватывают спектр электромагнитных волн длиной 10~8—10~14м и частотой 101Г— 1022 Гц. Одним из свойств рентгеновского и у-излучения является способность их проходить через многие тела, непрозрачные для видимого света. Это свойство положено в основу рентгеновской и -^Дефектоскопии, сущность которой заключается в измерении интенсивности рентгеновского или у-излучения после прохождения его через изделие.

где {д.', fj." — коэффициенты ослабления рентгеновских лучей в жидкости и газовой фазе, мм"1. Предэкспоненциальный множитель А в уравнениях системы (1) зависит от исходной интенсивности рентгеновского луча, толщины стенок просвечиваемого канала и стаканчиков, темнового тока ФЭУ, коэффициента усиления усилителя и других причин, являющихся постоянными для всех трех сигналов И±, И2 и И3.

нальна интенсивности рентгеновского излучения.

Индикатором и первичным преобразователем распределения интенсивности рентгеновского излучения для получения видимого изображения в большинстве интроскопов является монокристаллический индикатор на основе CsI(Tl) или поликристаллический экран. Полученное видимое изображение в большинстве случаев усиливается электронно-оптическим преобразователем (РИ-10Э, РЭ-10ЭТ) или преобразуется с помощью передающей телевизионной трубки в последовательность электрических сигналов, которые поступают на электронные блоки для последующей обработки и индикации. В случае необходимости рентгеновские интроскопы типа РИ могут применять для радиационного контроля качества при движении со скоростью до 0,5 м/мин и более.

тового потока (рис. 1.31) до некоторого значения граничной интенсивности /i = 30... 50 кВт/мм2. При последующем повышении интенсивности света амплитуда акустических импульсов быстро увеличивается. Это происходит потому, что начинает дополнительно действовать эффект испарения частиц с поверхности ОК: испаряется сам материал, а также вещества, его покрывающие. Улетучивающиеся частицы оказывают реактивное действие на поверхность. При дальнейшем увеличении интенсивности светового потока до /2=80... 500 кВт/мм2 рост амплитуды акустических импульсов замедляется, а затем прекращается. Это происходит благодаря увеличению концентрации паров над поверхностью ОК, их ионизация и поглощению ими лазерного излучения. Значения граничных потоков /1 и /2 существенно зависят от длины волны света (чем больше длина волны, тем меньше разница между /1 и /2), вида материала (у алюминия и его сплавов эта разница мала, у жаропрочных сплавов — велика), состояния поверхности. В некоторых случаях интенсивности /j и /2 практически совпадают и тогда при достиже-3,10'Вт/м нии интенсивностью светового по-

ОПТИЧЕСКИЙ РЕЛЕЙНЫЙ ЭЛЕМЕНТ -релейный элемент, реагирующий на изменение оптич. величин (освещённости, интенсивности светового потока, частоты световых колебаний). Содержит датчик оптич. величин -чувствительный элемент (напр., фотодиод, вакуумный или газонаполненный фотоэлемент, фотоумножитель) и пороговый элемент, обеспечивающий скачкообразное изменение состояния О.р.э. и, следовательно, его выходного сигнала. ОПТИЧЕСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ - электро магн. излучение с длинами волн X, заключёнными между переходной областью рентгеновского излучения (А.» 1 нм) и переходной областью радиоизлучения (>,« 1 мм). О.и. делят на инфракрасное излучение, видимое излучение и ультрафиолетовое излучение.

V§ возрастает с увеличением /д, а /д увеличивается пропорционально интенсивности светового пучка Е.

Помимо использования фотоэлементов как преобразователей солнечной энергии в электрическую, они применяются также в качестве чувствительных датчиков, реагирующих на изменение интенсивности светового потока. Широкое применение для этой цели получили германиевые, меднозакисные, селеновые, сернистосеребря-ные, сернистоталлиевые и другие элементы. Интегральная чувствительность их примерно на 2—3 порядка выше, чем у элементов с внешним фотоэффектом. Для ее повышения фотоэлементы конструируют так, чтобы возможно большее число носителей, возникающих при освещении, достигало р — «-перехода. С этой целью базу элемента w (рис. 12.10, а) делают как можно тоньше, а полупроводниковый материал выбирают с возможно большей диффузионной длиной носителей L, чтобы выполнялось соотношение w •< L.

фрагму 5. Диафрагма выполнена из двух наложенных друг на друга решёток, одна из которых соединена с корпусом прибора (неподвижная решетка), другая — с главным рычагом (подвижная решётка). Свет падает на фотоэлемент 4, соединённый с микроамперметром 5. Благодаря наличию решёток, дающих несколько щелей, увеличивается изменение интенсивности светового потока, что позволяет производить измерения без электрического усиления. Приборы строятся с базами, равными 1,5; 3,0 и 6,0 мм. Высота тензометра 60 мм. Увеличение т = 30 000.

Свойство хлора и водорода соединяться на свету было открыто еще в 1809г. французскими учеными Ж. Л. Гей-Люссаком и Л. Ж. Тенаром. Несколько позже это свойство хлора и водорода было использовано для создания актинометра, прибора для измерения интенсивности светового потока [61, 62, с. 74].

Электровакуумные фотоэлементы выпускаются двух типов — высоковакуумные и газонаполненные, с сурьмяно-цезиевыми или кисло-родно-цезиевыми фотокатодами. Высоковакуумные фотоэлементы менее чувствительны, чем газонаполненные, но имеют линейную зависимость фототока от интенсивности светового потока и практически безынерционны. Электровакуумные фотоэлементы работают только в цепях постоянного тока.

При перемещении подвижной решетки изменение интенсивности светового потока, падающего на фотоэлементы от призмы 2, ведет к появлению электрических импульсов, число которых соответствует величине, а частота — скорости перемещения. Применение двух фотоэлементов позволяет определить направление перемещения.

Щелевая диафрагма представляет собой прямоугольник, две боковые грани которого перемещаются: расходятся или сближаются. Ширина щели при этом изменяется от максимального раскрытия, соответствующего цифре 100 по черной шкале левого барабана, и до полного закрытия, соответствующего 0 по той же шкале. Угол поворота оси барабанов а пропорционален ширине щели /: / = а:360. При а = 0 щель полностью закрыта (/ = 0); при повороте барабана на 90, 180, 270 и 360° щель раскрыта соответственно на одну четверть, на половину, на три четверти, и, наконец, полностью. Так как ширина щели пропорциональна интенсивности светового потока, то, следовательно, / = т = а:360. Деления черной шкалы и показывают т, т. е. светопропуска-ние щелевой диафрагмы. Таким образом, угол поворота оси барабанов ос связан с делениями черной шкалы, нанесенной на левом барабане, т соотношением т = а:360, или в процентах т = а/360-100. При полном закрытии щели ос = 0 и т = 0; при полном открытии щели ос = 360° и т = 1 или 100 %. Формула отражает тот факт, что степени раскрытия щелевой диафрагмы пропорциональна интенсивность светового потока.

Описанная конструкция зонда позволяет разместить головку зонда непосредственно за последней ступенью турбины, причем длина тубуса может достигать нескольких метров. С зондом работают следующим образом. Поместив головку зонда в исследуемый поток влажного пара, снимают показания измерительного прибора, включенного на выходе фотоумножителя. По полученной зависимости интенсивности светового потока от координаты торца i световода 3 определяют индикатрису рассеяния света. Конструкция зонда обеспечивает удаление образовавшейся влаги за счет продувок благодаря избыточному давлению окружающей среды по сравнению с давлением в рабочей части. Преимущество .зонда состоит в том, что он обеспечивает достоверную информацию о крупных

При использовании прозрачных каналов на экране осциллографа (рис. 2.2, а) фотоэлектрическим элементом фиксируются пики и провалы интенсивности света, причем можно считать, что каждый пик интенсивности светового луча