Короткими лопатками

объекта контроля и дефекта. Он заключается в озвучивании изделия короткими импульсами ультразвука, излучаемого от генератора Ген регистрации эхо-сигналов, отраженных от дефекта к приемнику Пр (рис. 4.8, а). Этот метод позволяет контролировать сварные соединения при одностороннем доступе к ним.

В зеркальном варианте вместо одной из Рис. 4. Блок-схема головок используется ультразвукового те- отражатель. УЗ вол-невого дефектоскопа. НЫ) излучаемые короткими импульсами, проходят через контролируемое изделие, достигают отражателя, отражаются от него и возвращаются к искательной головке. Дефект ослабляет интенсивность принятого от отражателя эхо-сигнала. В качестве отражателей используются как спец. отражающие поверхности, так и элементы установок (напр., дно иммерсионной ванны) или поверхности самого контролируемого изделия. Для зеркального варианта теневого метода достаточен односторонний доступ к контролируемому изделию. Обычный вариант метода применяется шире, чем зеркальный. Теневой метод использует преимущественно продольные и нормальные волны.

При перемещении перфоленты с пробивками во всех строчках какой-либо кодовой дорожки изменение уровня сигнала будет примерно вдвое меньше, чем при перемещении перфоленты с чередующимися отверстиями. Но так как сигналы кодовых дорожек синхронизируются достаточно короткими импульсами при совпадении центров отверстий на перфоленте с центрами отверстий на диафрагме (за счет смещения отверстий на диафрагме для ведущей дорожки), то неполное перекрытие не сказывается на формировании импульсов.

Представляет интерес применение лазера на ИАГ для распиливания кристаллов алмаза толщиной до 3,5 мм за счет получения двух встречных резов на глубину до 1,8 мм с каждой стороны. Причем это может осуществляться одновременно на лазере, имеющем специальное приспособление, например на установке типа «Квант-17» (см. гл. VI). Для того чтобы избежать микротрещин и сколов со стороны входа луча и на боковых стенках кратера, необходимо применять лазер с короткими импульсами и повышенной мощности. Распиливание алмазных кристаллов может быть выполнено за 6—10 проходов со смещением кристалла от импульса к импульсу на 25—35 мкм при энергии излучения не более 2 Дж и частоте следования импульсов до 50 Гц. При этом затрачивается время от 2 до 5 мин на распиливание одного кристалла (в зависимости от его размеров), а поверхность в месте воздействия лазерного излучения может достигать 6—7 класса шероховатости. Полуфабрикаты, полученные в результате резки лазеров, подвергаются в дальнейшем обточке и огранке.

Ультразвуковая дефектоскопия (УЗД) - один из наиболее эффективных методов неразрушающего контроля. Дефектоскопия основана на принципе передачи и приема ультразвуковых импульсов, отражаемых от дефекта, расположенного в металле. Высокочастотные звуковые волны распространяются по сечению контролируемой детали или узла направленно и без заметного затухания, а от противоположной поверхности, контактирующей с воздухом, полностью отражаются. Для возбуждения и приема колебаний используются прямой и обратный пьезоэлектрический эффекты титаната бария (кварца). Генератор электрических ультразвуковых колебаний возбуждает пьезоэлектрический излучатель (передающий щуп), который через слой жидкости связан с поверхностью детали. Механические колебания, полученные от действия переменного магнитного поля на пьезоэлектрическую пластинку излучателя, распространяются по толще металла и достигают противоположной стороны сечения. Отражаясь, возвращаются и через жидкую среду возбуждают в пьезоэлектрическом приемнике (приемном щупе) электрические колебания, которые после усиления высвечивают на индикаторе характер прохождения колебаний. Бели препятствий, мешающих прохождению колебаний, не оказалось, амплитуды прямого и отраженного импульсов одинаковы. При наличии дефекта импульсных пиков будет три, причем отраженный от дефекта - меньший (рис. 4.4). Во время работы дефектоскопа колебания возбуждаются не непрерывно, а короткими импульсами. Существует несколько типов дефектоскопов и наборов щупов.

В интересной работе И. И. Иоффе и Л. М. Письмена по анализу макрокинетики химических процессов в псевдоожиженном слое катализатора [Л. 1050] исследовано, в частности, перемешивание газа в псевдоожиженном слое по экспериментальным функциям распределения времени пребывания трассирующего газа в слое при подаче трассера короткими импульсами.

кроскоп, модифицированный Фейджем [9]. Микроскоп укрепляли под рабочим участком (фиг. 2) и через смотровое окно наблюдали за пленкой жидкости на нижней стенке. Трассирующие в воде частицы освещались двумя короткими импульсами света через небольшие интервалы времени. Фотокамера регистрировала два изображения, видимые в микроскопе. Скорость частицы вычисляли по измеренному расстоянию между двумя изображениями частицы на фотографии и интервалу времени между импульсами света.

исследовании упругих постоянных гигроскопичных материалов. Однако высокая добротность таких преобразователей и возбуждение их длинными радиоимпульсами, необходимые для повышения амплитуды сквозного сигнала, увеличивают длительность нарастания переднего фронта импульса. Это снижает точность измерения скорости. Для ее повышения используют демпфированные преобразователи, возбуждаемые короткими импульсами. Происходящее при этом снижение амплитуды компенсируют увеличением напряжения возбуждения до 1200 и даже до 4000 В.

В Канаде лазерный способ реализован в установке LUIS, применяемой для контроля крупных деталей самолетов: крыльев, хвостового оперения, фюзеляжа [425, с. 46/310]. Оптическая сканирующая система расположена на расстоянии 1 ...2м от ОК. С одной позиции можно сканировать площадь 1 ... 2 м2. УЗ возбуждают короткими импульсами (их форма и длительность зависит от контролируемого материала или покрытия), а для приема используют интерферометр "Фабри-Перо". Максимум чувствительности достигался на частоте 12 МГц, но возможно применение частот от 5 до 20 МГц.

Томограф А1230 реализует описанную выше систему SAFT. В нем использована антенная решетка из 36 (6 х 6) преобразователей с СТК, работающих короткими импульсами с крутым передним фронтом. Расстояние между соседними преобразователями 20 мм. Каждый из них прижимается к ОК пружиной с постоянной силой. Антенная решетка позволяет контролировать ОК с неровностями высотой до 8 мм, что невозможно обеспечить с плоскими преобразователями.

Один из вариантов методики контроля биметаллических материалов малой толщины (0,15 ... 0,3 мм) разработали Ж.Г. Никифоренко и др. Контроль рекомендуется выполнять иммерсионным способом короткими импульсами на частоте, соответствующей четвертьволновой частоте по толщине верхнего слоя. При качественном соединении листов (их общая

Расчет ступени с короткими лопатками постоянного профиля (Я = d//>10) производят по среднему диаметру. Подобный расчет ступени с длинными лопатками служит исходным для последующего уточнения.

Радиальные зазоры в реактивных ступенях с короткими лопатками принимают равными дг = (0,001 О-г-0,001 5) d, в остальных случаях 6Л = (0,001 5-^-0,0020) d (все величины даны в миллиметрах).

Отрицательная реактивность у корня лопатки нежелательна, так как она сопровождается неблагоприятным диффузорным течением в соответствующем сечении рабочей решетки; повышенная реактивность у периферии связана с увеличением утечек рабочего тела через радиальный зазор. Для проверки величины реактивности на внутреннем и наружном радиусах ступени с короткими лопатками можно воспользоваться упрощенными выражениями, полученными на базе уравнения (4.45):

В реактивных турбинах с короткими лопатками могут возникать значительные потери энергии вследствие утечки пара через радиальные зазоры у концов лопаток, которые приходится оставлять во избежание задеваний ротора за статор при короблении цилиндра и по другим причинам. Потери энергии hym, вызванные радиальными зазорами 5, определяются с помощью эмпирических формул, например,

Наконец, следует отметить, что для дисков с короткими лопатками существуют несколько более простые аналитические методы определения собственной частоты колебаний, чем изложенный выше [28]. В этих расчетах пренебрегают или прогибом лопаток, или их потенциальной энергией при изгибе. Применение упрощенного метода для расчета диска, облопаченного длинными лопатками, приводит к совершенно неверному результату,

Сравнение результатов этих испытаний выявило (рис. XIV.4), что при указанном уменьшении числа Re к. п. д. ступеней с короткими лопатками значительно снижался. Кроме того, в опытах при малых числах характеристическое число («/Co)opt существенно отклонялось в сторону увеличения. В области (и/Со) < (и/Со)Oft кривые r\ — f(u/Co), по опытам БИТМ, имели более крутую ветвь, чем по опытам МЭИ, вследствие чего наиболее существенно изменялся к. п. д. в этой зоне. Особенно значительным было снижение к. п. д. и сдвиг кривой т] = f(u/Co) при наименьшей высоте лопаток k = 17 мм.

Все сказанное относилось к профильным потерям. Для ступеней с относительно длинными лопатками влиянием потерь от ПАС объясняются как снижение к. п. д., так и сравнительно небольшие сдвиги вершин к. п. д. в область повышенных значений и/Со. В ступенях же с короткими лопатками нестационарные явления в значительной мере усиливаются в связи с большой неравномерностью потока у периферии и у корня ступени, а также склонностью потока к местным отрывам в прикорневой зоне.

Точность изготовления диафрагм сзалитыми в них лопатками (фиг. 62, б) зависит от сборки под заливку, формовки и от правильного учета величины усадки. Хорошая повторяемость результатов возможна при высокой культуре производства. Если принять, что отливки будут изготовлены даже по 1 классу точности ГОСТ 1855—55 (для чугуна) или ГОСТ 2009—55 (для стального фасонного литья), то при средних размерах диафрагм отклонения могут быть примерно: по наружному диаметру + 1,6 мм, по внутреннему диаметру +1,4 мм и по высоте канала +1,0 мм. Такие отклонения превосходят допустимые для получения необходимых перекрыш. Часто диафрагмы отливаются с припуском в пределах выходных кромок лопаток с последующей подрубкой до точного размера. Такой путь несколько повышает точность изготовления диафрагм, но связан с трудоемкой ручной обработкой и возможен только при больших шагах лопаток. Поэтому чугунные диафрагмы со сравнительно короткими лопатками при указанных выше предельных отклонениях не удовлетворяют условиям точности. Диафрагмы с длинными лопатками устанавливаются в зоне малых давлений, и ущерб от применения увеличенных перекрыш здесь может быть незначительным. Для них выполнение с теми же допусками дает достаточную точность, хотя и плохую повторяемость результатов ввиду большого поля отклонений.

назначались бы как раз для ступеней с короткими лопатками. Помимо трудностей, связанных с заливкой лопаток в сталь, отрицательным является и то, что необходимая точность для этих ступеней не может быть достигнута.

Следовательно, и в этом отношении сварные диафрагмы и литые диафрагмы с короткими лопатками ограничивают желаемую-точность.

Упомянутые концентрические слои обычно не являются строго цилиндрическими. Однако поскольку в ступенях со сравнительно короткими лопатками отклонение рабочего вещества в радиальном направлении при течении его в проточной части ступени мало, а проектирование ступеней со сравнительно длинными лопатками в настоящее время выполняется с использованием условия радиального равновесия среды, то приближенно можно считать поверхности тока в основной части потока цилиндрическими. Тогда, развернув интересующее сечение (на том или ином радиусе) на плоскость, получают плоский поток через решетку профилей (рис. 1). Здесь имеются в виду ступени с цилиндрической проточной частью.