Метрологических институтов

В соответствии с законом РФ «Об обеспечении единства измерений» № 4871-1 от 27.04.93 г., значение поверки СНК выходит далеко за рамки предприятия (организации), которому они принадлежат. Обеспечивая единообразие СНК в части их метрологических характеристик, как одно из условий обеспечения единства контроля во всех звеньях народного хозяйства страны, поверка обеспечивает тем самым бесперебойное и безотказное взаимодействие этих звеньев, эффективное использование результатов их работы.

При поверке в первую очередь необходимо определить соответствие технических и метрологических характеристик СНК требованиям НТД. В зависимости от состояния стандартизации технических требований к СНК, подлежащим поверке, НТД по поверке могут быть разработаны в виде стандартов или методических указаний.

Метрологическое обеспечение эксплуатации измерительного комплекса. Автоматизированные исследовательские комплексы (АИК) — измерительно-вычислительные комплексы — предназначены для измерения механических и электрофизических характеристик и параметров образцов материалов в различных режимах нагружения. Типовая структура такого комплекса показана на рисунке 5.5.1. Сложность аппаратной и программной реализации АИК обусловливает необходимость взаимосвязанных мероприятий по контролю метрологических характеристик (MX) ком-

В соответствии с законом РФ «Об обеспечении единства измерений» № 4871-1 от 27.04.93 г., значение поверки СНК выходит далеко за рамки предприятия (организации), которому они принадлежат. Обеспечивая единообразие СНК в части их метрологических характеристик, как одно из условий обеспечения единства контроля во всех звеньях народного хозяйства страны, поверка обеспечивает тем самым бесперебойное и безотказное взаимодействие этих звеньев, эффективное использование результатов их работы.

Метрологическое обеспечение эксплуатации измерительного комплекса. Автоматизированные исследовательские комплексы (АИК) — измерительно-вычислительные комплексы — предназначены для измерения механических и электрофизических характеристик и параметров образцов материалов в различных режимах нагружения. Типовая структура такого комплекса показана на рисунке 5.5.1. Сложность аппаратной и программной реализации АИК обусловливает необходимость взаимосвязанных мероприятий по контролю метрологических характеристик (MX) ком-

Метрологические характеристики СНК для нормальных или рабочих условий устанавливаются ГОСТ 8.009—84, конкретные виды метрологических характеристик и пре-

установление и обоснование метрологических характеристик (MX) СНК;

Метрологические характеристики СО подразделяют на основные и дополнительные. Основные MX — аттестуемая характеристика и характеристика погрешности СО. Обе характеристики обязательно указываются в свидетельстве на СО. Дополнительные MX — характеристики однородности, стабильности и адекватности образца, влияющие параметры СО, функции влияния внешних условий. Значения метрологических характеристик СО устанавливают для каждого конкретного экземпляра образца.

Одновременно с созданием приборов разрабатывают методы и средства поверки их нормируемых метрологических характеристик. Методику поверки на ГПИ обязательно представляют в виде самостоятельного документа или раздела ТУ, отвечающего требованиям ГОСТ 8.042—76.

Световое изображение, сформированное видимым излучением и непосредственно воспринимаемое глазом человека, отличается по спектральному составу от радиационного изображения, сформированного ионизирующим излучением. Поэтому в качестве метрологических характеристик используют как коэффициент усиления яркости, как и коэффициент радиационно-оптического преобразования, под которым понимают отношение значения максимальной яркости выходного изображения преобра-

Взаимосвязь метрологических характеристик ПРВТ. Статистические ограничения в ПРВТ приводят к однозначной взаимосвязи (40) чувствительности к малым изменениям Л КО (плотности) контролируемого материала ~6 (ц), пространственного разрешения в плоскости томограммы ~Дл и толщины контролируемого слоя с диаметром, плотностью и элементным составом контролируемого изделия ц (р, гэф, ?)* энергией используемых рентгеновских фотонов Е и средней экспозиционной дозой ?>э.

Методические указания метрологических институтов по поверке разрабатывают организации, представляющие СНК на государственные приемочные испытания.

Методические указания метрологических институтов по поверке разрабатывают организации, представляющие СНК на государственные приемочные испытания.

12. Казаков Н. С., Мовенко Б. А., Пискунов Д. К. Устройство для исследования эффекта Баркгаузена в ферромагнитных материалах. В кн.: Сборник трудов метрологических институтов СССР. Вып. 152 (212). Л., Стандартгиз,- 1974, с. 149—154.

2. К и р е н к о в И. И. Труды метрологических институтов СССР, вып. 105(165). Л., 1969.

4. К а д к и и В. А. Магнитометр с вибрирующей катушкой. Труды Метрологических институтов СССР, вып. 64(124). М., 1962.

До введения стандартов в действие поверка должна производиться по инструкции Госстандарта СССР, методическим указаниям его метрологических институтов или методическим указаниям (инструкциям) ведомственной метрологической службы, разработанным и утвержденным в порядке, установленном ГОСТ 8.002—71.

81. Цейтлин Я. М. Идентификация нормальных условий линейных и угловых измерений. — В кн.: Теоретические вопросы метрологии. Л., 1979, вып. 237 (297), с. 86—95 (Тр. метрологических институтов СССР).

4. Васаускас С. С. О диаграмме твердости. — Тр. Метрологических институтов СССР, 1967, вып. 91 (151), с. 33—39.

Градуировка датчиков температуры. Поверка и градуировка образцовых датчиков температуры осуществляются сетью метрологических институтов и контрольных лабораторий Государственного комитета стандартов, мер и измерительных приборов СССР. Градуировка и поверка производятся в специальных термо- и криостатах.

15 Крылова Н. О. Рентгеновские интерферометры для измерения амплитуд перемещения от Ю-2 до Ю2 нм. — Труды метрологических институтов СССР, 19/6, вып. 192 (252),

8 Менчиков В. М , Шумилин В П. Маятниковая установка для градуировки угловых акселерометров — В кн Труды метрологических институтов СССР Вып 143 (*?03) Измерение угловых ускорений М — Л Изд во стандартов. 1973 с 13—17

Лаборатории зарубежных метрологических институтов воспроизводят световые единицы с такой же погрешностью. Единицы, принятые в отдельных странах, расходятся в среднем на 0,6%. При этих условиях единицам всех стран приписывается погрешность 0,5%. Считается, что в течение 10 лет эта точность будет удовлетворять требованиям науки и техники. Однако уже в настоящее время перед метрологами стоит задача повышения точности воспроизведения световых единиц. Это особенно важно в связи со все расширяющимся применением измерений мощности излучения в различных областях спектра — от ультрафиолетового до инфракрасного.