Микрофотография структуры

Рис. 14.1. Микрофотография поверхности фосфатированной мягкой стали марки 1010 (получена с помощью сканирующего электронного микроскопа). Покрытие получено из кислого раствора фосфата цинка с добавкой нитрата натрия в качестве ускорителя при выдержке в течение 1 мин при 65 °С [На]

Рис. 1. Микрофотография поверхности обратной .стороны покрытия, находившейся в контакте

Рис. 87. Микрофотография поверхности образца сплава ВТ5-1 с поверхностным газонасыщенным слоем после приложения усилия Р; X 100

Рис. 22. Полученная в сканирующем электронном микроскопе микрофотография поверхности разрушения при поперечном растяжении образца композита T1-6A1-4V—А12О3 [49].

Рис. 1. Электронная микрофотография поверхности разрушения при растяжения композита на основе стекловолокна и полипропилена [18]. X 220.

Рис. 3. Микрофотография поверхности стеклянного волокна, извлеченного из глу— бйн^'пЬлиэфирйёгЬ композита, после длительного кипячения ;в воде [3]. Х2550-(Петатвется с разрешения Королевского общества, Лондон).

а — электронная микрофотография поверхности аппретированного волокна S-стекла (901); <5—-оптическая микрофотография поперечного сечения волокон S-стекла (901).

а — электронная микрофотография поверхности борного волокна; тография поперечного сечения борных волокон.

л— электронная микрофотография поверхности волокна карбида кремния; б — оптическа микрофотография поперечного сечения волокон карбида кремния.

а — электронная микрофотография поверхности борного волокна с покрытием карбида кремния Borsic; б — оптическая микрофотография поперечного сечения волокон Borsic.

а — электронная микрофотография поверхности необработанного графитового волокна Hitco HMG-50; б — оптическая микрофотография поперечного сечения графитовых волокон Hitco HMG-50.

Рис. 1.15. Микрофотография структуры Si после ИПД: а — светлопольное изображение и картина микродифракции; б — темнопольное изображение

Рис. 5.10. Микрофотография структуры алюминиевого сплава 1420 после закалки: а — светлопольное изображение и картина микродифракции; б — тем-нопольное изображение

На рис. 149, е приведена электронная микрофотография структуры образца, растянутого на 30% (е = 1000 мм/ч) и подвергнутого старению в течение 100 ч. Как это четко видно, структура стали содержит е-мартенсит (по-видимому, образовавшийся после деформации растяжением).

Рис. 170. Микрофотография структуры поверхностных слоев образца стеклопластика АГ-4С после нагрева до 800° С при скорости нарастания температуры 10 град/с. Х500

Рис. ПО. Электронная микрофотография структуры сплава Ti - 6А1 — 4V после деформирования в р-области и термообработки (1050 "С, 10 мин, охлаждение на во! У о 1 ' Ч' охлажДение на воздухе), показывающая непрерывную прослойку р-фазы вокруг пластинчатой а-фазы [243J. У ирислии

Исследуемые шары укладывались лункой на плоскость пресс-формы и запрессовывались в метаакрилат для предотвращения завала краев лунки. После этого проводилась последовательная сошлифовка в плоскости, касательной к центру лунки. Техника последовательной сошлифов-ки лунки износа шара представлена на рис. 3,а, а на рис. 3,6 приведена микрофотография структуры поверхностных слоев лунки износа шаров после испытания на масле ТС-14,5 с 10% хлорпарафина.

Рис. 3,6. Микрофотография структуры поверхностного слоя лунки износа шара из стали ШХ-6. Ув.Х200. Масло ТС-14,5 с 10% хлорпарафина, нагрузка 316 кг

только ВеО. Микрофотография структуры бериллия в исходном состоя-

Рис.17.15. Микрофотография структуры сплава Ren6 95 с дефектами типа 3 и 4 (см. табл. 17.8):

Рис. 5.2. Микрофотография структуры материала с антифрикционным покрытием

АФГ и его исчезновение в зависимости от условий дифракции позволяют определить вектор смещения на АФГ и тем самым установить их природу — термическую или сдвиговую. Детальный обзор результатов электронно-микроскопических исследований упорядоченных сплавов приведен в работе [8]. На рис. 2.6 представлена типичная электронная микрофотография структуры упорядоченного сплава с антифазными доменами.