Массивном основании

Служи! для соединения массивных заготовок (корпусные детали крупных машин, резервуары высокого давления). Шов формируется в зазоре между соединяемыми деталями за счет плавления пластинчатых электродов / под слоем синтетических шлаков. Вытекание жидкого металла и шлаков из зазора предупреждают с помощью водоохлаждаемых ползунов или керамических обкладок 2

сплавов. Тем не менее вопрос о получении массивных заготовок большего размера и более однородных по микроструктуре остается весьма актуальным (см. §1.2). Актуальны также проблемы разработки новых технологически более эффективных схем ИПД, совершенствования оснасток и расширения круга материалов, в том числе труднодеформируемых, в которых можно сформировать наноструктурное состояние.

возможный саморазогрев образцов при РКУ-прессовании [62], что также оказывает существенное влияние на формирование микроструктуры. В этой связи получение массивных заготовок с одно-

1,31 ±0,05 А [81]. Последний результат близок к данным для Си, полученной ИПД массивных заготовок, где усредненное значение

Следует отметить, что сохранение изменений в магнитных свойствах вплоть до температуры 873 К, обнаруженное в [260], отражает более высокую термостабильность при повышенных температурах наноструктурного Ni, полученного ИПД компактированием порошков, по сравнению с образцами, полученными интенсивной деформацией из массивных заготовок. Это, очевидно, связано с некоторым загрязнением порошков в процессе шарового размола и последующей консолидации.

Служит для соединения массивных заготовок (корпусные детали крупных машин, резервуары высокого давления). Шов формируется в зазоре между соединяемыми деталями за счет плавления пластинчатых электродов 1 под слоем синтетических шлаков. Вытекание жидкого металла и шлаков из зазора предупреждают с помощью водоохлаждаемых ползунов или керамических обкладок 2

Из анализа ряда практических случаев можно заключить, что температурные деформации массивных заготовок малы и их влиянием на точность обработки можно пренебречь, особенно при незначительных размерах обрабатываемых поверхностей. Тепловые деформации тонкостенных заготовок с относительно большими обрабатываемыми поверхностями могут достигать величин, сопоставимых с допусками 2-го класса точности. Влияние температурных деформаций на точность растет при обработке внутренних поверхностей, когда поглощение тепла заготовкой увеличивается.

По индуктору, подключенному к генератору повышенной частоты, протекает переменный ток, образующий поле индукции. Вследствие этого в заготовках, находящихся в переменном магнитном поле, возникают вихревые токи, сосредоточенные, в основном, в поверхностных слоях заготовки. Толщина нагреваемого слоя зависит от частоты тока; чем она выше, тем более поверхностным и интенсивным будет нагрев. Поэтому для разогрева массивных заготовок иногда применяют промышленную частоту (50 Гц). Глубина прогрева в этом случае может достигать 25—30% от толщины заготовки. Прогрев по всему сечению, т. е, центральной части заготовки, происходит за счет теплопроводности. За время прохождения заготовки от входа в индуктор до выхода должен быть обеспечен нагрев до необходимой температуры.

Заготовку закрепляют с помощью зажимных механизмов (ЗМ)1. Силу закрепления Р3 определяют из условия равновесия заготовки под действием сил резания, реакций в опорах, сил трения по поверхностям контакта заготовки с опорами и ЗМ (табл. 7). При обработке массивных заготовок дополнительно учитывают силы веса, а при обработке с быстрыми перемещениями, резким торможением или реверсом - силы инерции.

Быстрее изнашиваются опоры: с ограниченными поверхностями контакта с технологической базой заготовки; контактирующие с необработанными технологическими базами заготовок, на которых имеются окалина или формовочный песок; служащие для установки массивных заготовок. Износ опор возрастает при увеличении сдвига заготовки по опорам в процессе установки и съема после обработки, с увеличением основного технологического времени, с увеличением амплитуды и частоты вибрации заготовки при резании.

1. Выбор метода обработки определяется габаритными размерами и массой заготовки, программой выпуска, видом заготовки и др. Небольшие заготовки диаметром до 800 мм, изготавливаемые серийно, целесообразно обрабатывать по методу дифференциации технологических переходов. При наладках используют упоры. При обработке массивных заготовок, а также при обработке единичных заготовок или их небольших партий более целесообразно применять метод концентрации технологических переходов.

К недостаткам метода замера микротвердости следует отнести высокий уровень погрешностей, особенно возрастающих при испытании покрытий с применением малых нагрузок. Поэтому желательно, чтобы диагональ отпечатка не была менее 8—10 мкм. Величина погрешности зависит от идентичности нагружения, выбора оптимальной нагрузки, качества настройки систем прибора и других причин. Особенно большие погрешности вносят внешние вибрации, поэтому прибор необходимо устанавливать на массивном основании.

Методика модельного эксперимента. Экспериментальная установка. Исследования проводились на модельной установке, созданной на базе маятникового копра [1]. На массивном основании установлены две боковые стойки, в которых с помощью подшипников качения крепится ось вращения. На оси подвешен маятник, к которому жестко крепится молот с полусферическим индентором. Положение маятника (угол отклоне-

На рис.28 представлен общий вид прибора. На массивном основании 18 корпуса прибора смонтирована стойка 3, в которой собрана оптическая схема прибора и предметный столик /5. Для перемещения предметного столика в двух взаимно перпендикулярных направлениях служат микровинты /. Для фиксации положения предметного столика предусмотрена рукоятка 17. Грубую фокусировку на исследуемый объект можно осуществить перемещением столика по вертикали с помощью винта 2, а точную фокусировку — с помощью механизма 16. На стойке 3 смонтированы головка микроскопа 9 и осветительное устройство, содержащее источник света 6, конденсор 7 с полевой 4 и апертурной 5 диафрагмами и фильтр монохроматического света 8.

Прибор .устроен следующим образом (рис. 33, б). На массивном основании крепятся: предметный столик 2, корпус 4 тубуса и.механизм;подъема 13 корпуса тубуса. В .корпусе тубуса помещена оптическая система прибора, укреплены объектив 16, элек-

На рис. 42 изображен вибровозбудитель типа VB34N (V) машины «Турбо-6». На массивном основании 5 закреплена полуэллиптическая пружина 4, которая несет захват 2 для испытуемого образца S. На консольном выступе захвата со стороны, противоположной испытуемому образцу, укреплен якорь 1 электромагнитного возбудителя 6 колебаний.

тора машины. Частота собственных изгибных колебаний испытуемого образца должна равняться резонансной частоте магнитострикционного возбудителя колебаний. Магнитострикторы применяют для возбуждения колебаний при испытаниях коротких лопаток турбин с высокой собственной частотой. Хвостовик лопатки зажимают в массивном основании, а концентра-

и электродвигатель закреплены на массивном основании 6. Установка снабжена баком-отстойником 7, на котором установлены фильтр грубой очистки 8 и моторонасосная установка 9. Раствор циркулирует по трубопроводам 10. В качестве Ю рабочей среды приме-

ственных колебаний; он имеет пружину в виде стержня 5 равного сопротивления, укреплённую одним концом в массивном основании 1. Инди-

Экспериментальные исследования зависимости температуры поверхности тонких металлических слоев на массивном основании от времени нагревания на воздухе сфокусированным излучением СО2-лазера (источник тепла неподвижный) показали (рис. 68), что имеет место нетривиальный ход кривых, который может быть объяснен только с учетом изменения поглощательной способности металла при окислении. В работах [125, 126] на примере тонких пленок показано, что при нагревании ряда металлов излучением СО2-лазера в присутствии кислорода их отражательная способность R необратимо уменьшается (рис. 69), что ведет к резко нелинейной зависимости времени прогорания тонкой пленки на подложке от плотности светового потока (рис. 70).

Инструментальные микроскопы выпускаются Новосибирским приборостроительным заводом (НПЗ) им. В. И. Ленина по ГОСТ 8074—82. Широко применяется большой инструментальный микроскоп типа БМИ (рис. 5.30), который является усовершенствованной конструкцией малого инструментального микроскопа типа ММИ. На массивном основании 1 установлены предметный стол 2, колонка 11 и осветительное устройство 13. Предметный стол, на котором расположена измеряемая деталь, может перемещаться в продольном и поперечном направлениях на шариковых опорах микрометрическими винтами 3 с ценой деления 5 мкм. По колонке // с призматическими направляющими маховиком 9 перемещается кронштейн 8, кото-

На рис. 11.12 представлена одна из типовых схем КИМ. На массивном основании 15 закреплены измерительный стол 18 и направляющая 12, по которой в продольном направлении перемещается арка 10. По перекладине 3 арки в попеРечном направлении переме-вдается каретка 6, в которую вмонтирована пиноль 5, движение которой происходит по вертикали. На пиноли закреплена измерительная головка 7 с многоточечным щупом 8. У большинства КИМ в измерительную головку вмонтирован преобразователь, основанный на индуктивном принципе действия.