Облучении ультрафиолетовым

При жестком облучении нейтронами или другими высокоэнергетическими частицами кристаллическая решетка металла претерпевает изменения, напоминающие те, что происходят при глубокой холодной деформации. Появляются вакансии в решетке, меж-узельные атомы, дислокации; это увеличивает скорость диффузии специфических примесей или легирующих компонентов. В процессе облучения может происходить локальное повышение температуры — так называемый «.температурный пик». Существуют два типа пиков: термические, при которых практически все атомы остаются на своих местах в решетке, и пики смещения, когда множество атомов перемещается в междоузельные положения.

НЕЙТРбННАЯ ДОЗА — доза ионизирующего излучения, получаемая объектом при его облучении нейтронами.

В качестве метки используют как готовые радиоизотопы, поставляемые в большом наборе промышленностью, так и радиоизотопы, возникающие непосредственно в исследуемом образце при его облучении нейтронами в ядерном реакторе или бомбардировке заряженными частицами на ускорителях. Применяя готовые изотопы, легче обеспечить необходимую радиохимическую чистоту метки и при совместном присутствии в образце нескольких меток - оптимальное для анализа отношение их концентраций.

Превращения в кристалле в результате ядерных реакций при облучении нейтронами приводят к образованию атомов примесей. Как правило, это не очень существенно, за исключением случаев, когда образуются газы (например, при реакции нейтронов с бериллием образуется гелий). Газы в решетке могут накапливаться, образуя пузырьки, и приводить к сильному распуханию. Атомы примесей, не являющихся газами, могут существенно менять свойства полупроводников.

низких температурах до и после различных доз облучения являются очень чувствительным методом определения количества радиационных нарушений. При облучении нейтронами заметно понижается теплопроводность сапфира, что видно из табл. 4.1 и рис. 4.4. На рис. 4.5 показано, что

Сообщалось, что удельная магнитная восприимчивость керамики из MgO, подобно другим соединениям [204, 228], уменьшается при облучении нейтронами, число парамагнитных дефектов при этом растет.

Рис. 4.17. Изменение плотности кварца при облучении нейтронами [222]:

Изменения кристаллической структуры не были отмечены и при облучении нейтронами: 2-Ю20 нейтрон/см2 (Е > 100 эв) и 1-Ю20 нейтрон/см2 (Е > 1 Мэв) [20, 173].

Магнитная восприимчивость графита резко падает при облучении нейтронами [226]. После облучения потоком 2-Ю20 нейтрон/'см2 она уменьшается в четыре раза, а после 23-Ю20 нейтрон/см*— в 20 раз.

Результаты этих исследований показывают, что скорость окисления графита увеличивается при облучении нейтронами и •у-квантами. Скорость реакции является функцией температуры, давления и дозы облучения. Сообщалось, что, по крайней мере, скорость реакции С02 с графитом не зависит от типа излучения, а зависит только от поглощаемой энергии [52].

Модуль сдвига пирекса при облучении нейтронами увеличивается неравномерно и достигает насыщения при интегральном потоке тепловых нейтронов 3-Ю16 нейтрон/см2 (рис. 4.55). В работе [198] изучалось влияние давления однородной среды на модуль сдвига облученного стекла

Наблюдение люминесцирующих следов индикаторного рисунка проводят в темноте при облучении ультрафиолетовым светом. Для освещения используют ртутно-кварцевые лампы типа ДРШ со светофильтрами УФС-6.

Смешанный метод. В данном методе используют люминофоры-красители, которые светятся в оранжево-красной области спектра при облучении ультрафиолетовым светом и избирательно отражают дневной свет в красной области спектра. Таким образом, здесь сочетаются свойства двух предыдущих методов.

Наблюдение люминесцирующих следов индикаторного рисунка проводят в темноте при облучении ультрафиолетовым светом. Для освещения используют ртутно-кварцевые лампы типа ДРШ со светофильтрами УФС-6.

Смешанный метод. В данном методе используют люминофоры-красители, которые светятся в оранжево-красной области спектра при облучении ультрафиолетовым светом и избирательно отражают дневной свет в красной области спектра. Таким образом, здесь сочетаются свойства двух предыдущих методов.

Известно, что во время у-облучения полимеры поглощают кислород. Это отмечалось также при облучении ультрафиолетовым излучением. Обычно полагают, что кислород реагирует со свободными радикалами, образующимися при разрывах цепи, и, таким образом, ингибирует сшивание. Однако для полиуретанов это, по-видимому, неверно, так как их свойства не ухудшаются. Наличие ароматики и строение полиуретанов способствуют рекомбинации концевых групп цепей с образованием сшивок, в результате чего физические свойства не ухудшаются.

Люминесцентный метод течеискания основан на регистрации флюоресцирующей индикаторной жидкости (индикаторного пенетранта), проникающей в полости неплотностей, при облучении ультрафиолетовыми лучами.

пор, расслоений). Этот метод заключается в облучении ультрафиолетовыми лучами деталей, которые предварительно погружают в раствор минерального масла. Раствор, проникающий в трещины, раковины или поры, под действием ультрафиолетовых лучей ярко флюоресцирует (светится), что позволяет быстро обнаружить дефектные места.

Люминесцентный метод основан на способности некоторых жидкостей светиться при облучении ультрафиолетовым светом.

В последнее время разработана методика легирования кристаллов карбида кремния бериллием при использовании в качестве лигатуры карбида бериллия — Ве2С. Легированные бериллием кристаллы проявляли интенсивную фотолюминесценцию при облучении ультрафиолетовым светом.

После нанесения жидкости детали промывают в холодной воде и просушивают под струей теплого сжатого воздуха. При сушке деталь нагревается, раствор выходит на поверхность и растекается по краям трещин. Для лучшего выявления трещин поверхность детали целесообразно припудрить порошком силикагеля (SiO2) и выдержать на воздухе в течение 5—10'мин. Силикагель вытягивает раствор из трещин. Порошок, пропитанный раствором, оседает на трещинах и при облучении ультрафиолетовыми лучами приобретает яркое зеленовато-желтое свечение. При контроле этим методом используют люминесцентный дефектоскоп марки ДУК-5В. Источниками ультрафиолетового излучения служат ртутно-кварцевые лампы со светофильтрами.

Качество обезжиривания поверхности деталей контролируют с помощью радиоактивных изотопов, фотометрическим способом, а также способом, основанным на изменении интенсивности флуоресценции при облучении ультрафиолетовыми лучами обезжиренных и необезжиренных поверхностей.