Объектива микроскопа

Объектами исследования в теории массового обслуживания являются сложные системы, в которых анализ процессов функционирования связан с исследованием прохождения через систему потока заявок (иначе называемых требованиями или транзак-тами). Разработчиков подобных сложных систем интересуют прежде всего такие параметры, как производительность (пропускная способность) проектируемой системы, продолжительность обслуживания (задержки) заявок в системе, эффективнбсть использования имеющегося оборудования и других средств.

Объектами исследования являлись органосиликатные материалы, получаемые на основе систем полиметилфенилсилоксан—слоистый силикат— окисел. Методами химического анализа, ИК-спектроскопии, газовой хроматографии, масс-спектрометрии и др. охарактеризованы процессы, имеющие место на стадии изготовления материалов; изменения в твердой фазе, происходящие при нагревании, а также состав выделяющихся летучих продуктов. Указаны температурные интервалы наблюдаемых превращений. Библ. — 20 назв., табл. — 7, рис. — 2.

Объектами исследования были изломы, сформированные в эксплуатации В С в процессе роста усталостных трещин в трех элементах конструкций: кронштейне, изготовленном из алюминиевого сплава Д16Т, системы управления самолетом Ил-76; стойке шасси, изготовленной из титанового сплава ВТ-22, самолета Ан-74; диске II ступени турбины, изготовленном из жаропрочного никелевого сплава ЭИ-698, двигателя НК-8-2у. Все сплавы имели структуру в соответствии с требованиями технологии изготовления указанных элементов

С помощью металлографического микроскопа достаточно точно могут быть определены толщины пленок и слоев отложений на металле. Для этого готовят поперечные разрезы, шлифованные и нешлифованные образцы (например, котельных труб) с пленками и отложениями. Наблюдение за объектами исследования проводится в отраженном свете; обычно используют сухие объективы в сочетании с окуляром Гюйгенса с сеткой и шкалой.

5 — физико-химические факторы, являющиеся объектами исследования, и организационно-технические группы средств, управляющие изменением технико-экономических показателей;

В работе'[19] объектами исследования были монокристаллы фтористого лития и хлористого натрия. Начальная плотность дислокаций равнялась 6-104 см~2 для фтористого лития и 2-Ю4 см~2 для хлористого натрия. Кристаллы подвергались вибрационному воздействию в двойном резонансном осцилляторе с частотой ПО кГц. Работа [20] посвящена исследованию влияния амплитуды и времени воздействия ультразвуковых колебаний на размножение дислокаций в поликристаллических образцах никеля, меди, алюминия различной чистоты и монокристаллах фтористого лития и хлористого натрия. Образцы предварительно отжигались при предплавильной температуре в течение нескольких часов с последующим медленным охлаждением. Начальная плотность дислокаций во всех исследуемых образцах составляла 105 см~2.

С 1973 г. при Научном совете РАН по комплексным проблемам энергетики функционирует постоянно действующий научный семинар "Методические вопросы исследования надежности больших систем энергетики" (базовая организация - Сибирский энергетический институт СО РАИ). Семинар имеет межотраслевой^характер и объединяет специалистов в области надежности различных отраслей энергетики. Объектами исследования проблем надежности являются энергетический комплекс (ЭК) в целом, а также специализированные системы энергетики (СЭ): электроэнергетические, газоснабжения, нефтеснаб-жения, теплоснабжения и водоснабжения. Основными задачами семинара являются: обсуждение постановок задач и направлений исследований в области надежности СЭ и ЭК; сопоставление уровня исследований в этой области в государствах бывшего СССР и за рубежом; анализ и оценка результатов наиболее важных научных и прикладных исследований, выполняемых по данной проблеме; формирование общих точек зрения по рассматриваемым вопросам и на этой основе подготовка и издание взаимосогласованных материалов методического характера. Основное внимание в работе семинара обращается на методические аспекты исследований, имеющих межотраслевое значение и опирающихся на наличие общих свойств различных СЭ.

В задачу раздела теории точности механизмов, изучающего теоретически неизбежные для некоторых схем механизмов отклонения получающегося движения от заданного движения, входит определение основных размеров механизма (метрический синтез) из условия получения наименьших отклонений на интересующем нас участке движения. В настоящее время объектами исследования являются плоские механизмы с одними только низшими парами. Эти механизмы благодаря разнообразию движения шатуна дают возможность приближенно воспроизводить практически почти любое плоско-параллельное движение.

неродного напряженного состояния материала, что осложняет картину изучаемого явления. Рассмотрим сначала более простой случай — рассеяние энергии колебаний при однородном напряженном состоянии. Одно из таких исследований провел В. П. Тимошенко [Л. 39]. Объектами исследования служили трубчатые стержни из стали марки От. 2, подвергавшиеся продольным и крутильным колебаниям. Длина стержней составляла 100 и 50 мм, их средний диаметр— 10 мм, толщина стенки 0,6—1 мм. При продольных колебаниях диапазон частот составлял 1 000—2 000 гц, диапазон напряжений— 2—20 кГ/мм2, при крутильных колебаниях диапазон частот составлял 200—400 гц, диапазон напряжений сдвига 1—15 кГ/мм2. Декремент определялся при помощи записи свободных (затухающих) колебаний. Результаты опытов представлены на рис. 2. Они с достаточно хорошим приближением могут быть описаны следующим выражением:

В задачу раздела теории точности механизмов, изучающей теоретически неизбежные для некоторых схем механизмов отклонения получающегося движения от заданного движения, входит определение основных размеров механизма (метрический синтез) из условия получения наименьших отклонений на интересующем нас участке движения. В настоящее время объектами исследования являются плоские механизмы с одними низшими парами. Эти механизмы благодаря разнообразию движения шатуна дают возможность приближенно воспроизводить практически почти любое плоско-параллельное движение. Необходимые сведения по этому вопросу имеются в специальной литературе.

Предыдущий период определялся преобладанием эмпирических по существу методов исследования. Объектами исследования были лишь те конечные эффекты, которыми определяется совершенство на данный момент технологического процесса. Задача исследования заключалась в установлении зависимости между величинами, которыми характеризуются эти конечные эффекты (чаще всего — тот или иной критерий качества отливок), и разнообразными мероприятиями по усовершенствованию технологического процесса.

где Л/х — N 2 — разность отсчетов по измерительному устройству, соответствующая расстоянию между полосами; N3 — Л/4 — разность отсчетов по измерительному устройству, соответствующая искривлению полосы. Цена муаровой полосы С есть величина постоянная для данного объектива микроскопа и указывается обычно в паспорте на прибор.

Первые установки для тепловой микроскопии были снабжены приспособлениями в виде шторки или заслонки из металлического листа. Внутри рабочей камеры установки такая шторка при помощи электромагнитного толкателя, введенного через вакуумное уплотнение, перемещалась параллельно плоскости смотрового стекла. Шторка располагалась в промежутке между поверхностью образца и смотровым стеклом. Небольшое отверстие в ней на время наблюдения за структурой образца совмещалось с оптической осью объектива микроскопа, находящегося снаружи вакуумной камеры. При этом напыление на смотровое стекло происходило только во время наблюдения и фотографирования строения образца. Недостаток приспособления заключался в том, что после окончания опыта нужно было очищать смотровое стекло от слоя конденсата.

В 1950 г. в Государственном оптическом институте (ГОИ) были разработаны специальные зеркально-линзовые насадки к объективам микроскопа, увеличивающие рабочее расстояние. В качестве примера на рис. 43 приведена оптическая система, состоящая из собственно объектива микроскопа с увеличением 40 и апертурой 0,65 (40x0,65) и микронасадки (компоненты / и //) с рабочим расстоянием 30 мм и увеличением 1, дающей промежуточное изображение О'. Первая поверхность линзы / выполнена асферической и тщательно просветлена. Чтобы исключать влияние прямой засветки, на центральную часть линзы нанесен непрозрачный экран.

Рис. 88. Принципиальная схема установки ИМАШ-9-66 при расположении объектива микроскопа над образцом (а) и инден-тора над образцом (б)

С помощью рукоятки 46 вал 30 микроскопа МВТ поворачивается в пределах угла около 50°, ограничиваемого котировочными упорными винтами. Таким образом, над рабочей частью образца располагается либо оптическая система микроскопа (объектив, тубус с осветителем и окуляр), либо при повороте рукоятки и вала 30 в другое крайнее положение над точкой пересечения поверхности образца оптической осью микроскопа оказывается вершина смонтированного на секторе 31 индентора. Соответствие двух указанных точек достигается при юстировании прибора поворотом объектива микроскопа в эксцентриковой втулке, снабженной специальной контргайкой.

Такие же измерения могут быть осуществлены и по большему количеству пар, съемка которых должна производиться при одном и том же увеличении путем последовательного перемещения образца относительно объектива микроскопа.1

Принципиальная схема метода теневого сечения представлена на рис. 88. Прибор теневого сечения представляет собой систему двух микроскопов — проектирующего / и наблюдательного //, установленных под углом 90° по отношению один к другому. Предметные точки объективов обоих микроскопов совмещены одна с другой и с опорной плоскостью прибора; на высоте 0,1 мм над опорной плоскостью установлен нож 3. На испытуемой поверхности PiPz необходимо иметь уступ высотой h, равной толщине покрытия /, нанесенного на деталь 2. Пучок лучей, выходящий из проектирующего объектива микроскопа /, встречает на своем пути нож 3, который срезает часть пучка. Часть пучка лучей, не срезанная ножом, падает под углом 45° на испытуемую поверхность PiPa в пространстве между кромкой ножа LL и ее проекцией на эту поверхность.

где N — увеличение объектива микроскопа.

Двойной микроскоп (фиг. 42) служит для оценки поверхностей, имеющих высоту неровностей от 1—2 до 60 мк. Микроскоп производства завода „Прогресс" имеет увеличение от 63 до 270 (объектив с увеличением 18, окуляр-микрометр с увеличением 7,10,15,17). Вполезрениядвой-ного микроскопа помещается испытуемая поверхность в поперечнике от 0,3 до 1 мм. На фиг. 43 показана схема светового сечения. Для получения надёжных результатов необходимо брать на оцениваемой поверхности 10 замеров. Для перевода делений окуляр-микрометра в микроны, выражающие высоту неровностей, устанавливается переводной коэфициент при помощи металлического объект-микрометра. Так, при увеличении объектива микроскопа 9 и окуляр-микрометра 10 переводной коэфициент выражается 0,65, при увеличении объектива 9 и окуляр-микрометра 17 переводной коэфициент выражается 0,56.

Для определения числовой апертуры объектива микроскопа в конце XIX в.применяли апертометр Аббе, состоящий из полукруглой стеклянной пластинки с нанесенными на ней двумя шкалами и подвижными рамками. Кроме этих оптических измерительных приборов, Аббе разработал конструкции рефрактометра, сферометра и контактного микрометра. Эти приборы предназначались для точного измерения показателя преломления, радиусов кривизны линз и измерения длин различных предметов.

Измеряемая деталь 9 располагается на столике 10, имеющем возможность перемещаться в двух направлениях с помощью микрометрических винтов //. На поверяемую поверхность детали с помощью проецирующего микроскопа от лампочки / под углом 45° направляются лучи света. Они проходят защитное стекло 2, двухлинзовый коллектор 3, щель 4, светофильтр 5, ахроматические линзы 6 и 7 и сменные объективы 8. Коллектор 3 вместе с ахроматическими линзами 6 и 7 дает изображение нити лампы / во входном зрачке объектива микроскопа, а щель 4 с помощью ахроматических линз и сменных объективов 8 изображается на поверяемой поверхности детали 9, на которой она рассматривается с помощью микроскопа наблюдения. Микроскоп наблюдения состоит из окулярного винтового микрометра 12 и дополнительной линзы 7. В обоих микроскопах применены парные объективы 8, корригированные на бесконечность.