Плоскости изотропии

аберраций оптических систем; проявляется в том, что изображение светящейся точки в общем случае имеет вид пятна эллиптич. формы, к-рое при нек-рых положениях плоскости изображения вырождается в отрезок прямой или кружок. А. возникает при использовании пучков света, падающих наклонно (под большим углом) к оптич. оси системы, либо вследствие асимметрии самой оптич. системы (напр., в цилиндрич. линзах) и обусловлен тем, что преломление (отражение) лучей в разл. сечениях проходящего светового пучка происходит неодинаково. А. может быть исправлен таким подбором линз, чтобы одна компенсировала А. другой. А. может обладать и человеческий глаз (устраняется с помощью очков с цилиндрич. стёклами и контактных линз).

СВЕТОПРОВОД - то же, что световод. СВЕТОСИЛА - отношение освещённости в плоскости изображения, создаваемого оптич. системой, к яркости изображаемого объекта. Для достаточно удалённых объектов (когда плоскость их изображения практически совпадает с задней фокальной плоскостью оптич. системы - случай типичный, напр., для фото- и кинообъективов) это отношение равно (я/4)-т-(D/f')z, где т - коэфф. пропускания оптич. системы; D - диаметр её входного зрачка; /' - заднее фокусное расстояние; отношение D/f наз. относительным отверстием оптич. системы. Величина (D/f)2 наз. геометрической С., а произведение геом. С. на т - физической С.

АСТИГМАТИЗМ (от греч. а — отрицат. частица и stigme — точка) — одна из геом. аберраций оптических систем, состоящая в том, что изображение светящейся точки в общем случае имеет вид пятна эллиптич. формы, к-рое при нек-рых положениях плоскости изображения вырождается в отрезок прямой или кружок. А. возникает вследствие использования пучков света, падающих наклонно к гл. оптич. оси системы, а также при нарушении осевой симметрии преломляющих поверхностей оптич. системы (напр., роговицы или хрусталика при А. глаза).

Метод спекл-интерферометрии основан на регистрации на одну и ту же фотопластинку двух изображений объекта в различных состояниях (например, исходном и деформированном) при освещении его лазерным светом. Как известно, изображение поверхности диффузных объектов в лазерном свете представляет собой своеобразную пятнистую структуру, состоящую из множества хаотически расположенных бликов (спеклов). Возникновение спекл-эффекта обусловлено усреднением диффузно-когерентных волновых полей в плоскости изображения, причем возникающая при этом интерференционная структура модулируется микрорельефом поверхности, представляющим собой случайную функцию координат.

минимума квадратичного отклонения в плоскости изображения для произвольного числа значений изображений Лапласа.

Более широкие возможности для получения сложного контура обеспечивает проекционный способ формирования излучения [5]. При использовании этого способа с помощью телескопической (осветительной) системы 2 (рис. 33) излучение ОК.Г 1 расширяется до размеров маски 3, а затем уменьшенное изображение этой маски с помощью объектива 4 фокусируется на обрабатываемой поверхности 5. Причем, обрабатываемая поверхность располагается не в фокальной плоскости, а на некотором расстоянии AF от нее в плоскости изображения маски (в плоскости проекции). Форма зоны лазерного воздействия при этом зависит от конфигурации маски

Прямую линию можно изобразить различными способами. Применим простейший способ и изобразим на горизонтальной плоскости (плоскости изображения П) проекцию отрезка прямой, заключенного между плоскостью П и параллельной ей П', находящейся на расстоянии Н от нее (рис. 43, а).

в дальнейшем будет играть роль плоскости изображения, и. отметим точки alt а2, . . ., ап пересечения с ней прямых, на которых лежат указанные векторы.

Заметим, что истинное звено ?01 и ложное 501 принадлежат к четырехчленной группе (1, 2, 3, 4), поэтому два креста Г12д4 и Tisaj, взаимные к этой группе, будут взаимны с 501 и S'ol. Также и S12 с S(2 принадлежат к четырехчленной группе (5, 6, 7, 8), и два креста 76в7в и Т^ы, взаимные с последней, будут взаимны с $12 и S'l2. Согласно теореме, существует единственный крест Z, взаимный с Г1234, 7\з»1, Т5в78. ^5768- который в то же время войдет в двучленную группу Zlt Z2, взаимную с ортами (9, 10, 11, 12). С другой стороны, кресты, взаимные с ложным звеном 52о и истинным звеном 520, будут также взаимные крестом Z. Построим трехчленную группу крестов Ult U2, U3, взаимную с крестами Zj, Z2> S'20. Затем построим двучленную группу Т910 ц i2, Та и 10 12, взаимную с ортами (9,10,11,12); теперь очевидно, что крест 520, взаимный с Ui, <72, f/з, Т'вюип и 7'9moi2, представит истинное последнее звено цепи. Действительно, крест-звено 52о принадлежит к группе ортов (9, 10, 11, 12) и, кроме того, группа крестов, взаимная с этим звеном и ложным, взаимна также с группой, заключающей «секущий» крест Z. Легко найти и остальные звенья истинной цепи: точка пересечения горизонтальных составляющих s20 и s2o крестов 520 и 520 соединяется прямой А с точкой пересечения горизонтальных составляющих Zi и 22 крестов Zt и Z2. Это будет та прямая, которая проходит через точки пересечения соответствующих сторон плоских многоугольников —• горизонтальных составляющих цепей. После этого легко определить полюс силового многоугольника на плоскости изображения и затем все остальное.

дельным перемещением (с точностью 0,1 мм) с помощью винтов координатника. Лучи,идущие от модели, проходят компенсатор К и анализатор А; узкая диафрагма D располагается в плоскости изображения модели, получаемого от линзы L. При наводке трубы на заданную точку модели диафрагма О снимается и открывается стеклянная пластинка Р, на которую проектируется изображение модели, рассматриваемое через откидную линзу L2 (2 на фиг. 196, а).

Мощность лазера, используемого в ЛГИ, позволяет получать рисунок контурно-лучевым или контурно-проекционным методом. Принципиальное построение оптической схемы в обоих случаях одинаково. Разница состоит в том, что в первом случае обработка ведется в фокальной плоскости объектива, а во втором — в плоскости изображения диафрагмы, ограничивающей поперечное сечение пучка лазерного излучения.

где i, — орт оси х,. Условие (10.14) применимо для трещин, расположенных в плоскости изотропии материала. В общем случае анизотропии материала величина 2^ зависит от положения точки О и от ориентации плоскости трещины в этой точке. Для трещины, которая отклоняется на угол 0 от своего первоначального положения, величина энергостока равна проекции вектора Г на направление роста трещины, и тогда критерий, определяющий начало развития трещины, имеет вид

Упругие постоянные в плоскости, перпендикулярной к плоскости изотропии, также имеют линейную зависимость от содержания нитевидных кристаллов. Однако влияние изменения содержания кристаллов на эти характеристики менее значительно, чем в плоскости изотропии. В поперечной волокнам плоскости упругие постоянные мало зависят от упругих свойств нитевидных кристаллов. Это подтверждается удовлетворительным совпадением значений для С23 и Е3, рассчитанных по формулам (7.3) и (7.6) с учетом (7.1) и (7.5) и упрощен-

Упругие постоянные в плоскости, перпендикулярной к плоскости изотропии, также имеют линейную зависимость от содержания нитевидных кристаллов. Однако влияние изменения содержания кристаллов на эти характеристики менее значительно, чем в плоскости изотропии. В поперечной волокнам плоскости упругие постоянные мало зависят от упругих свойств нитевидных кристаллов. Это подтверждается удовлетворительным совпадением значений для С23 и Е3, рассчитанных по формулам (7.3) и (7.6) с учетом (7.1) и (7.5) и упрощен-

где N, Q, M — соответственно тангенциальное, поперечное (перерезывающее) усилия и изгибающий момент; R, 2h — соответственно радиус и толщина слоя; б(± — напряжения на наружных и внутренних поверхностях слоев; E, E', v, v' — модуль Юнга и коэффициент Пуассона соответственно для направлений в плоскости изотропии и перпендикулярных к этой плоскости; и, w — тангенциальные и нормальные перемещения срединной поверхности; YJ — угол поворота нормали.

Здесь Е1 — модуль упругости в направлении, перпендикулярном плоскости изотропии; Е2 — модуль упругости в плоскости изотропии; G! = ?х/2 (1 + Vj) — модуль сдвига в плоскости изотропии; G2 — модуль сдвига в плоскостях, перпендикулярных плоскости изотропии; Vj, v2 — коэффициенты Пуассона, характеризующие сокращения в плоскости изотропии и в направлении, перпендикулярном этой плоскости, при растяжении в плоскости изотропии.

В трансверсально изотропном теле все направления в плоскости изотропии и направление, перпендикулярное этой плоскости, явля-

ются главными направлениями упругости. Поэтому для такого тела главные оси деформированного состояния совпадают с главными осями напряженного состояния, если одна из главных осей напряженного состояния перпендикулярна плоскости изотропии.

свойствами и объемным содержанием компонентов, так и особенностями их расположения. Од-нонаправленно армированный слой рассматривается как трансверсально изотропный материал, характеризующийся пятью независимыми упругими характеристиками: модулями упругости в направлении армирования Е\ и в трансверсаль-ном направлении EZ, коэффициентами Пуассона в плоскости укладки волокон Vj2 и в плоскости изотропии V23 (первый индекс соответствует направлению поперечной деформации, а второй - направлению нагружения), а также модулем продольного сдвига G\I.

параметр, учитывающий различие коэффициентов Пуассона компонентов; v - объемное содержание волокон; Efc - модуль упругости волокна в продольном направлении; Ер- - модуль упругости волокна в поперечном направлении; Ет -модуль упругости связывающего; vm - коэффициент Пуассона связующего; vj^, \fy - продольно-поперечные коэффициенты Пуассона волокна; у^е - коэффициент Пуассона волокна в плоскости изотропии.

Зависимость для определения коэффициента Пуассона в плоскости изотропии V23 получена в результате решения двухосной задачи [19]

Модуль сдвига в плоскости изотропии однонаправленно армированного пластика может быть найден по зависимости