Плотность изменяется

.здесь Ямакс — длина волны, которой соответствует максимальная плотность излучения; единица измерения произведения Ямакс^ — м- К.

здесь Еок — плотность излучения абсолютно черного тела при температуре в текущей точке N на поверхности.

Формула (5-1) определяет распределение энергии излучения черного тела по длинам волны. Иногда при описании удобно использовать не длины волн К, а соответствующие им частоты v = = с/К. При этом спектральная плотность излучения Ev относится к единичному интервалу частот

Из уравнения (5-8) следует, что плотность излучения в направлении нормали в я раз меньше полной плотности излучения тела. После подстановки значения Еп из (5-8) в (5-7) последнее принимает вид:

где ?ov — спектральная плотность излучения с поверхности абсолютно черного тела при температуре, равной температуре газа в слое. Выражение в скобках в (и) зависит лишь от оптической тол-

На основе (и) можно вычислить также полное излучение с единичной поверхности газового слоя Е: Для этого нужно знать зависимость коэффициента поглощения av от частоты v в полосах поглощения— излучения для данного газа при заданных температуре и давлении. Вычисление сводится к интегрированию обеих частей (и) по всему спектру, практически — по полосам поглощения, так как вне их излучение газа отсутствует. В итоге плотность излучения с поверхности

Так как число индуцированных переходов растет с увеличением плотности излучения, то желательно, чтобы усиливаемый сигнал и стимулированное им излучение проходили активную среду многократно. При каждом таком проходе плотность излучения растет и эффективность высвечивания возбужденных частиц повышается.' Для достижения этой цели рабочее вещество помещают в объемный резонатор, настроенный на частоту усиливаемого сигнала (а следовательно, и стимулированного излучения).

Здесь р= 1 — е — отражательная способность поверхности. Выделим на поверхности объекта элементарную площадку dSt, на поверхности источника — dSj, обозначив углы между линией ri}, соединяющей центры площадок, и нормалями к площадкам через ац], ciji (см. рисунок). Соответствующие углы для визируемой площадки dS0 и dSj будут a0j и ауо. Учтем, что эффективная поверхностная плотность излучения объекта равна сумме плотностей: а) первичного собственного излучения объекта Е0\ б) многократно переотраженного в системе объект— источник собственного излу-

Рабочее тело помещается в резонатор, который, как уже указывалось, в большинстве случаев представляет собой интерферометр Фабри—Перо с плоскими или сферическими зеркалами. Обычно одно из зеркал имеет коэффициент отражения Rlt близкий к 100%, — это так называемое глухое зеркало; коэффициент отражения R2 второго зеркала колеблется от 75 до 90%. Большой коэффициент отражения второго зеркала дает низкий порог, но при этом имеет место высокая плотность излучения внутри рубина, что приводит к увеличению потерь и уменьшению выходной мощности. При слишком малых R% чрезмерно поднимается порог генерации. Обычно оптимальный коэффициент отражения подбирается экспериментально.

Высокая спектральная плотность лазерного излучения характеризуется не только большим количеством энергии, передаваемой посредством пространственно узкого луча, но также очень узкой полосой частот, в пределах которой концентрируется излучение. В спектроскопии, основанной на анализе спектров флуоресценции, интенсивность последней зависит от спектральной плотности поглощенного излучения. В табл. 30 приведены характеристики излучения некоторых типов лазеров и обычных источников света. Маломощный Не—Ne-лазер имеет спектральную плотность излучения почти на четыре порядка выше, чем наиболее интенсивные некогерентные источники света.

Источник Длина волны излучения, мкм Размер пятна в фокусе, мм2 Ширина полосы излучения Спектральная плотность излучения, эрг Фотонный поток , фотон

; Рассмотрим случай, когда расчетная точка окружена со всех сторон однородной твердой средой. Процесс распространения тепла определяется численными значениями трех параметров: коэффициента теплопроводности, удельной теплоемкости и плотности. Плотность изменяется незначительно и во всех дальнейших рассуждениях считается постоянной. Коэффициент теплопроводности i и удельная теплоемкость принимаются линейными функциями температуры: h—A+Bt и cp=C+Dt. Схема расположения расчетной точки представлена на рис. 7-16.

Рассмотрим случай, когда расчетная точка окружена со всех сторон однородной твердой средой. Процесс распространения теплоты определяется численными значениями трех параметров: коэффициента теплопроводности, удельной теплоемкости и плотности. Плотность изменяется незначительно и во всех дальнейших рассуждениях считается постоянной. Коэффициент теплопроводности и удельная теплоемкость принимаются линейными функциями температуры: Я = А + Bt и с = С+ -+- Dt. Схема расположения расчетной точки представлена на рис. 7-16.

теле и Шеррил [220] нашли, что кварц, кристобалит, тридилит и плавленая Si02 достигают предельной плотности (2,26 г/см3) после облучения потоком быстрых нейтронов 2-Ю20 нейтрон/см2. Обычно образующаяся фаза имеет структуру стекла, оптически изотропна, и плотность ее примерно на 3% больше плотности плавленой Si02. Будучи отожженной, она рекристаллизуется в а-кварц. Более высокая плотность и факт рекристаллизации в а-кварц дают возможность предположить, что обычно образующаяся при облучении фаза имеет несколько более высокий ближний порядок, чем плавленая Si02 [21 ]. С другой стороны, Примак и Шиманский [176], облучавшие плавленую Si02 до получения максимальной плотности (увеличение на 2,7%), после отжига обнаружили, что значение плотности возвратилось к исходной величине. Характер уменьшения плотности облученного кварца виден из рис. 4.17. До потока 5-Ю19 нейтрон/см2 плотность изменяется довольно медленно, затем быстро достигается предельное уменьшение плотности (около 15%) при потоке 1,5-1020 ней- Ш трон/см2. Для потоков, меньших примерно § 3-Ю19 нейтрон/см2, изменение плотности, вычисленное из параметра кристаллической решетки, соответствует плотности, измеренной гидростатическим способом. Но для больших потоков на основе рентгеновских данных получаются несколько большие изменения плотности.

Для изоляции стен и потолочных перекрытий с максимальной температурой 400—500° С применяются асбестовые матрацы из асбестовой ткани, заполненные совелитом, ньювелем, зонолитом, минеральной ватой или другими теплоизоляционными материалами. Асбестовые матрацы выпускаются промышленностью различной длины и ширины, толщиной 20, 30, 40, 50 и 60 мм. Плотность изменяется в зависимости от вида заполнителя и толщины матраца (от 0,22 до 0,4 т/м3). Коэффициент теплопроводности асбестовых матрацев с ньювелем или зонолитом Я = 0,0814 + 0,00014 t [вт/м -град[; при заполнении совелитом К = 0,0872 + 0,00014 t [вт/м -град]; при заполнении минеральной ватой Я, = 0,0582 + 0,000233 t [вт/м-град].

Решая (4.26) для элементарной кольцевой струйки и двух сечений х j и х 2 , при условии, что плотность изменяется при изменении давления и температуры, имеем:

ность отложений в значительной мере зависит от химического состава, пористости и структуры отложений. Поэтому становится понятной разноречивость данных различных исследователей. Отметим некоторые данные по плотности отложений в энергетических установках. По данным [3.93—3.97], плотность изменяется от 2,5 до 4,7 г/см3. Сверху плотность отложений, например окиси железа, будет естественно ограничена теоретической плотностью р = 5,2 г/см3.

Поропласты (губчатые материалы) с открытопористой структурой, вследствие чего присутствующие в них газообразные включения свободно сообщаются друг с друром и с окружающей атмосферой. Их кажущаяся плотность изменяется от 25—60 до 130— 500 кг/мэ. Поропласты выпускаются эластичными, например ППУ-Э (на основе сложного полиэфира). На основе поливинил-формалей выпускается поропласт ТПВФ, обладающий водопогло-щением 400—700 % за 2 ч.

Авторы работы [80 ] полагают, что плотность изменяется из-за

При фазовом превращении второго рода некоторая физическая величина, равная нулю с одной стороны от точки превращения, постепенно растет (от нуля) при удалении от точки превращения, при этом плотность изменяется непрерывно, теплота не выделяется. К фазовым превращениям второго рода относятся:

где Тр - длительность (длина) реализации, на которой проводят измерение. Следовательно, с уменьшением полосы пропускания фильтра А/ системати -ческая погрешность уменьшается, случайная возрастает. Систематическая погрешность особенно заметна вблизи собственных частот, где спектральная плотность изменяется наиболее резко и вторая производная d2G I df2 может иметь значительную величину, тем большую, чем менее демпфированы колебания (т.е., чем меньше коэффициент затухания Т).

определяется плотностью жидкости и может приниматься постоянным, так как при нормальном изменении концентрации и температуры жидкости в аппаратах МВУ плотность изменяется незначительно.

У металлов плотность изменяется от 22,5 г/см3 у осмия до 0,534 г/см у лития. Легирование сплава более тяжелыми элементами, чем основа, увеличивает, а более легкими — уменьшает его плотность. Масштабы легирования ограничены техническими и экономическими соображениями. Плотность основы является определяющей для группы сплавов разного химического состава на основе данного металла.