Параметров элементов

шетке. Их структуры Отличаются , лишь величиной параметров элементарной ячейки.

с/8, пр. гр. Fm3m), параметр решетки а = 0,601(0) нм при 460 "С со стороны, богатой Ge; a = 0,599(0) нм при 390 "С со стороны, богатой Те; а = 0,6020 нм при 600 "С для сплава с 50 % (ат.) Те и а =, = 0,5999 нм при 600 "С для сплава с 51 % (ат.) Те [2]. Соединение aGeTe имеет тригонально искаженную структуру типа NaCl с параметром решетки а - 0,5986 нм, а = 88,35°. В работе [4] определена структура другой низкотемпературной модификации pGeTe с ромбической подъячейкой, имеющей параметры а = 1,176 нм, h = = 0,415 нм, с = 0,436 нм; для получения параметров элементарной ячейки этого соединения необходимо увеличить в 4 раза параметры Ъ и с подъячейки, в результате получаем соответственно 16,60 и 17,44 нм. В работе ГМ2] в более схематичной диаграмме состояния в эвтектоидном распаде yGeTe и перитектоидном образовании PGeTe при температуре 365 °С участвуют другие наборы фаз.

На диаграмме рис. 117 граница областей (? -+• 8)/8 была успешно установлена одним из этих методов. Теперь нам осталось определить ожидаемое превращение т-фазы и его границы. Для установления границ (а + т)/7 и Т/(т + &) з области высоких температур подходит метод микроанализа. Если Т-фаза имеет кубическую структуру, то можно считать, что в области низких температур более подходит рентгеновский метод определения периода решетки. Для некубических решеток изменения в составе обычно вызывают изменения отношения параметров элементарной ячейки, поэтому вычисление параметров решетки по данным измерения рентгенограмм становится затруднительным. Параметры решетки могут быть определены, конечно, только в том случае, если линии на рентгенограммах достаточно резкие. Однако, когда это условие не выполняется, можно определить положение границ фаз, изме-

На диаграмме рис. 117 граница областей (? -+• 8)/8 была успешно установлена одним из этих методов. Теперь нам осталось определить ожидаемое превращение т-фазы и его границы. Для установления границ (а + т)/7 и Т/(т + &) з области высоких температур подходит метод микроанализа. Если Т-фаза имеет кубическую структуру, то можно считать, что в области низких температур более подходит рентгеновский метод определения периода решетки. Для некубических решеток изменения в составе обычно вызывают изменения отношения параметров элементарной ячейки, поэтому вычисление параметров решетки по данным измерения рентгенограмм становится затруднительным. Параметры решетки могут быть определены, конечно, только в том случае, если линии на рентгенограммах достаточно резкие. Однако, когда это условие не выполняется, можно определить положение границ фаз, изме-

2.1. Определение параметров элементарной ячейки поликристаллических веществ и материалов......................... 46

2.1. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ

Точное определение параметров элементарной ячейки имеет большое практическое значение при изучении состава, структуры и физико-химических свойств многих кристаллических материалов, особенно металлов и сплавов. Так, непрерывная регистрация изменений параметров решетки по мере изменения температуры позволяет определить коэффициент теплового расширения. Зависимость параметров элементарной ячейки от наличия примесей в исследуемом веществе дает возможность определить состав твердых растворов и фазовые границы на диаграммах равновесия. С помощью точно измеренных размеров элементарной ячейки можно определить плотность, а также молекулярные веса кристаллов. Даже весьма незначительные изменения параметров решетки позволяют выявить причины появления внут-

Определение параметров элементарной ячейки кристаллических материалов 47

Цель лабораторной работы — определение параметров элементарной ячейки поликристаллических веществ и материалов с помощью рентгеновского структурного анализа.

Для определения параметров элементарной ячейки кристаллических материалов необходимо выполнить индицирование атомных плоскостей, т.е. обозначить последние индексами, которые определяют их пространственное положение в элементарной ячейке относительно выбранных в ней координатных осей (h, k, I — индексы Миллера).

Определение параметров элементарной ячейки кристаллических материалов 49

15.8. Определение параметров элементов высшей кинематической пары кулачковых механизмов

15.8. Определение параметров элементов высшей кинематической пары кулачковых механизмов 184

происходят явления существенно изменяющие топографию свойств элементов сосудов. Топография свойств металла существенно зависит от параметров нагружения, исходных свойств металла, геометрических параметров элементов, наличия в них дефектов и др. В качестве примера, на рис. 2.18 приведены картины муаровых полос возникающих при испытаниях конструктивных элементов со смещением кромок.

собность, так как в них возможно применение элементарных преобразователей более сложной конструкции и соответственно с более совершенными параметрами. В настоящее время разработана и освоена технология интегрального изготовления строк МЧЭ в одном технологическом цикле на одном кристалле, что существенно упрощает процесс производства, уменьшает разброс параметров элементов строки. Например, строчный преобразователь на биполярных двухколлекторных магнитот-ранзисторах, разработанный совместно центром диагностики трубопроводов «Интроско» (г. Обнинск) и ГТЩ «Технологический центр» (г. Зеленоград), содержит 128 магнитотранзисторов

собностъ, так как в них возможно применение элементарных преобразователей более сложной конструкции и соответственно с более совершенными параметрами. В настоящее время разработана и освоена технология интегрального изготовления строк МЧЭ в одном технологическом цикле на одном кристалле, что существенно упрощает процесс производства, уменьшает разброс параметров элементов строки. Например, строчный преобразователь на биполярных двухколлекторных магнитот-ранзисторах, разработанный совместно центром диагностики трубопроводов «Интроско» (г. Обнинск) и ГНЦ «Технологический центр» (г. Зеленоград), содержит 128 магнитотранзисторов

Редактирование параметров процесса содержит такие функции, как добавление элементов, удаление, перемещение, обмен элементов в структуре процесса, изменение параметров элементов процесса, удаление траекторий инструментов и т.д. Изменения в процессе должны быть пересчитаны.

Однако для оценки надежности сложного изделия и для обеспечения требуемых нормативно-технических показателей необходимо установить предельно допустимые значения всех тех параметров элементов и деталей, от которых зависит работоспособность изделия в целом.

В зависимости от того, какие свойства выходных параметров элементов преобладают, будут формироваться и основные черты сложных изделий.

Под вероятностью безотказной работы понимается вероятность сохранения работоспособности и параметров элементов в установленных пределах в течение заданного промежутка времени и при определенных условиях эксплуатации. Интенсивность отказов — это число отказов в единицу времени, отнесенное к числу элементов, которые остались исправными к рассматриваемому времени.

Аппаратурная погрешность связана со случайными изменениями параметров элементов, входящих в схему регистрации. Систематическая аппаратурная погрешность не рассматривается, так как она может быть учтена в процессе контроля. Статистическая радиационная составляющая обусловлена природой радиоактивного распада и определяется флуктуа-циями потока квантов, попадающих на детектор. Аппаратур-но-статистическая составляющая возникает в результате того, что некоторые элементы обладают «мертвым временем», т. е. после поступления на них импульса тока или напряжения

8. Уровни знания параметров элементов (оборудования)