Параметров поверхности

Оценка параметров последовательных технологических систем. Рассмотрим случай, когда технологический процесс состоит из нескольких последовательных операций. Не нарушая общности, такие системы могут быть сведены к рассмотрению двух соседних операций.

Оценка параметров последовательных технологических систем. Рассмотрим случай, когда технологический процесс состоит из нескольких последовательных операций. Не нарушая общности, такие системы могут быть сведены к рассмотрению двух соседних операций.

В работе содержатся основные сведения b вальдовских последовательных испытаниях, а также о предложенных автором планах невальдовского типа, более эффективных при контроле надежности и качества, включенных в государственные стандарты. Публикуется метод расчета точных параметров последовательных испытаний любого вида, точные аналитические выражения для законов распределения моментов окончания последовательной процедуры, метод определения эффективности сложных систем с учетом надежности и другие материалы, расширяющие теоретическую базу последовательного анализа. Приведены таблицы планов испытаний рассмотренных в книге типов для широкого диапазона входных величин.

В книге приведены основные сведения из теории и практического использования методов последовательного анализа Вальда применительно к контролю качества и надежности. Основное внимание уделено повышению эффективноститсонтроля с учетом особенностей его проведения. Для получения необходимых результатов потребовалось рассмотрение целого ряда проблем теоретического и прикладного характера, многие из которых давно ждали своего решения. Для читателей интерес могут представить полученные автором результаты, такие, как расчет точных границ и параметров последовательных планов, точные аналитические выражения для законов распределения, а также планы неваль-довского типа, обладающие рядом преимуществ, позволяющие также впервые осуществлять последовательное оценивание. Полезным может оказаться метод оценки эффективности сложных систем с учетом надежности на основе теории систем массового обслуживания, носящий универсальный характер. ' ......• > •• ;

В гл. 3 и 4 подробно излагаются способы определения количественных характеристик последовательных испытаний, начиная от обоснования метода расчета параметров и кончая приведением алгоритмов расчета параметров последовательных испытаний на ЭВМ. Все количественные данные, приведенные в данной книге, включая таблицы планов контроля, лрлучены рекомендованными в книге методами. В тех случаях, когда знание этих методов не диктуется необходимостью и важны лишь окончательные результаты, последние могут быть использованы без предварительного ознакомления с материалом этих глав.

первого и второго рода близки к а и /? (что обеспечивается в общем случае за счет подбора точных значений А и В), результаты, полученные с помощью (2.11) достаточно точно совпадают с фактической величиной средней продолжительности контроля, полученной с помощью метода определения точных параметров последовательных испытаний.

параметров последовательных

Определение параметров последовательных испытаний

Определение параметров последовательных испытаний 41

Определение параметров последовательных испытаний

Определение параметров последовательных испытаний 45

Выглаживанием называют многочисленные разновидности процесса обработки поверхности давлением, без снятия стружки, путем трения скольжения или качения. В процессе выглаживания происходит в той или иной мере изменение геометрических параметров поверхности и показателей физико-механического состояния поверхностного слоя детали. В связи с этим по технологическому назначению выглаживание разделяют на три вида: калибровка — для повышения точности размера поверхности и уменьшения шероховатости; выглаживание — для уменьшения шероховатости; отделка — для достижения упрочнения поверхностного слоя материала.

2 Базовая линия (поверхность^ Линия (поверхность) заданной геометрической формы, определенным образом проведенная относительно профиля (поверхности) и служащая для оценки геометрических параметров поверхности

Одновременно в горизонтальной проекции заменяют концы соответствующих образующих плавными кривыми (штриховые линии на фиг. 15), получаемыми переносом с вертикальной проекции точек пересечения образующих с касательными. Такое отклонение от линейчатой формы в небольшой зоне не нарушает основных параметров поверхности и не затрудняет изготовления отвалов.

Имея значения параметров поверхности (направляющих косинусов нормали, кривизны и т. п.), в системе Pxyz можно аналитическим путем определить их в системе Рх^у^. Однако определение отклонений этих параметров, как это требуется для целей технологического синтеза зацеплений, при помощи аналитических средств сопряжено с громоздкими выкладками и вычислениями, затрудняющими их практическое использование. Поэтому искомые отклонения лучше определять методом их непосредственной оценки, как это будет показано ниже. Помимо значительного сокращения и упрощения расчета, такой метод имеет преимущество наглядности и позволяет раскрыть физический смысл как исследуемых отклонений, так и причин, их вызывающих.

В монографии обобщены закономерности влияния структуры на модуль упругости и совместного влияния геометрических параметров поверхности на коэффициент жесткости и несущую способность литых деталей. Дан сравнительный анализ существующих способов физико-термического, химического и механического упрочнения поверхности деталей. Приведены методы определения и практического регулирования структуры, физико-химических свойств и остаточных напряжений в поверхностном слое отливок. Рассмотрены процессы заполнения форм жидким металлом, формирование и классификация дефектов поверхности и поверхностного слоя литых и механически обработанных деталей. Описаны особенности технологической оснастки и технологии новых и существующих способов формообразования для получения отливок с упрочняющим геометрическим орнаментом.

Базовая длина I - длина базовой линии, используемая для выделения неровностей, характеризующих шероховатость поверхности. Базовая линия (поверхность) - линия (поверхность) заданной геометрической формы, определенным образом проведенная относительно профиля поверхности и служащая для оценки геометрических параметров поверхности.

Весьма важной для современной теории пластичности является концепция о существовании предельных поверхностей в пространстве внутренних параметров: поверхности нагружения / в пространстве напряжений и поверхности деформирования F в пространстве деформаций.

Рис. 2.2. К определению параметров поверхности вращения

то же отверстие 5 и, отклоняясь призмой 3, попадает на приемник 10, сигнал с которого поступает на электронное устройство 9. Свет, рассеянный образцом, отражается от сферического зеркала и собирается на поверхности второго приемника 8, сигнал с которого также подается на электронное устройство 9. Таким образом электронное устройство 9 регистрирует отношение Id/(I — Id). В схеме прибора предусмотрен ряд устройств для юстировки. Так, правильная установка образца, обеспечивающая выход и попадание зеркально отраженного пучка на приемник 10, достигается с помощью системы зеркал 11 и приемника 1, а установка приемника 8 в точку, где собираются отраженные от зеркала 7 лучи, осуществляется визуально с помощью оптического устройства 4, снабженного волоконной оптикой. В ряду приборов отметим установку [42], где реализован относительный метод измерения TIS, и измерение а проводится сравнением с эталонным образцом, среднеквадратичная шероховатость поверхности которого измерена с максимальной точностью. Установка для измерения TIS с фотометрическим шаром фирмы «Балзерс» схематично изображена на рис. 6.6, где излучение от Не—Ne-лазера 1, проходя прерыватель 2, ослабитель 3 и апертуру 4, падает на поверхность исследуемого образца 5. Зеркально отраженный поток выводится из фотометрического шара через отверстие 9. Интегральное значение рассеянного потока с детектора 8 поступает на синхронный усилитель 6, куда одновременно поступает опорный сигнал падающей интенсивности. Сигнал с синхронного усилителя пропорционален отношению 10/1а, входящему в формулу (6.11). Измеренное значение а индицируется на цифровом вольтметре 7. Значения а порядка 0,5 нм были измерены с помощью описанной установки фирмы «Балзерс» в работе [37]. Как было показано в работе [30], метод позволяет проводить измерения а и не дает возможности определения параметров поверхности в плоскости (X, Y). Это ограничение метода TIS было преодолено в приборе, в котором была обеспечена возможность измерения углового

Существует достаточно много методов, позволяющих проводить измерения шероховатости поверхности рентгеновского зеркала, однако универсального метода не существует. Каждый прибор, реализующий тот или иной метод измерения, имеет свою, характерную для него, разрешающую способность в плоскости (X, Y), которую можно охарактеризовать некоторым параметром L. Как следует из анализа методов измерения а, проведенного выше, значение L может составлять от нескольких десятков ангстрем (измерение рассеяния рентгеновского излучения, метод реплик в просвечивающей электронной микроскопии) до единиц микрон (оптические интерферометры). Численные характеристики профиля поверхности, полученные при различных значениях, могут, естественно, отличаться достаточно сильно. Поэтому результатами измерений параметров поверхности рентгеновских зеркал нужно пользоваться с осторожностью, имея в виду использование их для оценки качества рентгеновской оптики скользящего падения или подложек для многослойных рентгеновских зеркал. В этом смысле интересно провести сравнительный анализ результатов измерения сверхгладких поверхностей различными методами. Для этого мы сочли полезным составить две таблицы. В табл. 6.6 приведены характеристики методов для измерения шероховатости поверхности с а <; 1,0 нм. Наиболее интересные с точки зрения нашего сравнения данные измерений, имеющиеся в литературе, собраны в табл. 6.7, в третьей графе которой даны соответствующие ссылки. Как видно из таблиц, измерения а разными методами имеют значительный разброс. Для поверхностей со сверхмалой шероховатостью (а ^ 1,0 нм) б отдельных случаях разница в измеренных значениях 0 составляет до 200 %, в случае более грубых поверхностей (как, например, для зеркала из стекла № 5) значение о, измеренное щуповым профилометром, оказалась в пять раз больше, чем по данным оптического гетеродинного профилометра. Можно предположить, что значения а при использовании оптического гетеродинного профилометра занижены из-за его низкого горизонтального разрешения 2,5 мкм, т. е. он оказывается нечувствительным к мелкомасштабным шероховатостям, которые, как мы отметили в п. 1.4, для рентгеновского излучения играют существенную роль. Заметим также, что показания гетеородинного профилометра зависят от скачка фазы, т. е. на результат измерений оказывает влияние шероховатость поверхности. В этом смысле оптический гетеродинный профилометр, как прибор для контроля качества поверхности рентгеновской оптики, надо использовать осторожно. Результаты измерений методами TIS и щуповой профилометрии, как видно, хорошо согласуются для сверхгладких поверхностей, однако с увеличением о наблюдаются существенные расхождения.