Полученное изображение

Так как дифференциальное уравнение теплопроводности выведено на основе общих законов физики, то оно описывает явление теплопроводности в самом общем виде. Поэтому можно сказать, что полученное дифференциальное уравнение описывает целый класс явлений теплопроводности. Чтобы из бесчисленного количества выделить конкретно рассматриваемый процесс и дать его полное математическое описание, к дифференциальному уравнению необходимо присоединить математическое описание всех частных особенностей рассматриваемого процесса.

Интегрируя полученное дифференциальное уравнение с разделенными переменными, получаем

Приравнивая коэффициенты при [А в уравнении (2) и решая полученное дифференциальное уравнение для plt можно показать, что следующий член ряда (3) ц,рх оказывается малым по сравнению с Ро и им можно пренебречь. Поэтому дальнейшее исследование основывается на законе (5) колебаний реактора.

в первое уравнение равновесия (3) и решая полученное дифференциальное уравнение, можно получить выражение перемещения и:

Полученное дифференциальное уравнение второго порядка может удовлетворять двум граничным условиям: ф = 0 при у = 0 и ф = 0 при у = оо.

Полученное дифференциальное уравнение первого порядка с правой частью можно легко решить, проведя преобразование по Лапласу по координате z при нулевых начальных (по г) условиях. Такое преобразование Лапласа по координате 2 справедливо, если при продолжении области до z — *оо не будет внесено новых возмущений. При равномерномн распределении плотности теплового потока по длине <7°Hap(2):=const упомянутое условие выполняется.

Полученное дифференциальное уравнение имеет универсальный характер и применимо для оптимизации теплообменных аппаратов различной конструкции. Подобным путем можно получить дифференциальные зависимости при переменном значении коэффициентов теплопередачи или других характеристик теплообменных аппаратов,

Решая полученное дифференциальное уравнение при начальном условии k(t=Q) — 1, получим

Граничные условия остаются прежними. Полученное дифференциальное уравнение является уравнением Эйлера для следующей вариационной задачи:

где обозначено Лг = Со + С,а + С2рг, a i=0; 1. Решая полученное дифференциальное уравнение, находим

Исходя из изложенного, подсчитаем количество соотношений в краевых условиях, необходимых для определения констант интегрирования основного замкнутого множества уравнений (табл. 4). Проще всего это можно сделать путем последовательных подстановок уравнений (1.5.13), (1.2.92), (1.4.5) основного множества в (1.4.16), приводящих множество четырех тензорных уравнений к одному тензорному уравнению. Тогда относительно лагранжевых координат Lk полученное дифференциальное уравнение будет содержать производные второго (наивысшего) порядка по времени Г и по эйлеровым Е, координатам. Значит в ДГ-мерном эйлеровом пространстве количество констант интегрирования л = 2(1 +N). Это же число определяет количество необходимых соотношений в краевых условиях. При этом отмечаем, что две константы были связаны с интегрированием по времени. Значит начальные условия должны содержать два соотношения. Одно из них определяет значение лагранжевых координат в начальный момент времени Г = Го, когда

Этот расчет показывает, что в оптическом микроскопе мы не увидим кристаллик, размер которого меньше 0,4 — 0,6 мкм, какое бы большое увеличение не применяли2. Отсюда практически на оптическом микроскопе изучают и фотографируют структуру при увеличении не более чем в 1000 — 1500 раз, при этом самая маленькая частица,, которая в нем различима, имеет на изображении размер 0,4 — 0,6 мм. Полученное изображение можно укрупнить и размер видимых частиц станет больше, но новых деталей в структуре при этом не выявляется.

Достроим полученное изображение до параллелепипеда, у которого составляющие Рх, Ру, Рг являются ребрами, а сила Р — диагональю.

Полученное изображение может быть проанализировано оператором С помощью интерактивного измерителя характеристик. При . этом оператор может измерить сигнал в точке изображения, оценить количественно линейные размеры и площади участков, степень анизотропии.

Регистрация нейтронного изображения способом переноса осуществляется в два этапа. На первом этапе изображение получают на экране из материала, способного активироваться под действием нейтронов. Такой экран располагают за исследуемым объектам в пучке нейтронов и экспонируют до получения заданной активности. Полученное изображение представляет собой распределение возникших в материале экрана радиоактивных ядер, количество которых, приходящееся на единицу площади поверхности экрана, прямо пропорционально плотности потока приходящих нейтронов.

электростатические силы между проявляющим порошком и бумагой притягивают его частицы к бумаге. Полученное изображение закрепляют в парах органического растворителя или термическим способом. Полученное на бумаге изображение можно сохранять длительное время (как рентгеновскую пленку).

С помощью несложной оптической системы полученное изображение проектируется с небольшим (пяти-семикратным) увеличением на конечный экран, где и рассматривается.

освещены проектирующим светом. После дальнейшей обработки полученное изображение можно использовать в качестве основной копии для получения дополнительных отпечатков. Этот процесс подробно описан Райдну-ром [30, стр. 409].

Электронно-оптические преобразователи используются в тех случаях, когда необходимо оперативно получить видимое изображение в реальном масштабе времени непосредственно в зоне наличия инфракрасного излучения и обычно без облучения контролируемого объекта. Вместе с этим полученное изображение не может быть передано на значительное расстояние. Передающие электронно-лучевые трубки, подобные применяемым в телевизионных системах, при использовании специальных материалов и элементов могут применяться для преобразования распределения плотности потока инфракрасного излучения в видеосигналы и затем — в видимое изображение на экране электроннолучевой трубки. Устройство типичной передающей электронно-лучевой трубки — видикона, применяемой для этих цепей, показано на рис. 5.9. Элементом видикона, чувствительным к инфракрасному излучению, является мишень, состоящая из полупрозрачной металлической пленки МП и полупроводникового слоя ПС с большим сопротивлением.

Во время экспозиции ионизирующее излучение от контролируемого объекта, попадая в материал полупроводникового фотослоя ксеропластины, частично разряжает его, причем тем больше, чем больше интенсивность падающего ионизирующего излучения. Полученное изображение в виде электростатического рельефа превращают в видимое (проявляют), опыляя фотослой заряженным сухим мелкодисперсным порошком (КСЧ-5, ПСЧ-1, ПСЧ-74 или др.) с размером частиц не более 10 мкм. Количество оседающего порошка зависит от электрического потенциала в точках экспонированного фотослоя ксеропластины, что создает видимое изображение, которое сразу же может анализироваться оператором. Однако для удобства расшифровки результатов и для сохранения их полученное изображение переносят на бумагу и фиксируют его, хотя при переносе на бумагу разрешающая способность снижается в 1,5—2 раза.

Этот расчет показывает, что в оптическом микроскопе мы не увидим кристаллик, размер которого меньше 0,4 — 0,6 мкм, какое бы большое увеличение не применяли2. Отсюда практически на оптическом микроскопе изучают и фотографируют структуру при увеличении не более чем в 1000 — 1500 раз, при этом самая маленькая частица,: которая в нем различима, имеет на изображении размер 0,4 — 0,6 мм. Полученное изображение можно укрупнить и размер видимых частиц станет больше, но новых деталей в структуре при этом не выявляется.

Регистрация нейтронного изображения способом переноса осуществляется в два этапа. На первом этапе изображение получают на экране из материала, способного активироваться под действием нейтронов. Такой экран располагают за исследуемым объектом в пучке нейтронов и экспонируют до получения заданной активности. Полученное изображение представляет собой распределение возникших в материале экрана радиоактивных ядер, количество которых, приходящееся на единицу площади поверхности экрана, прямо пропорционально плотности потока приходящих нейтронов.