Поверхностью электрода

Измерение прямолинейности поверхностей с помощью лекальных линеек можно производить «на просвет» и методом линейных отклонений. В первом случае ребро лекальной линейки помещают-на поверяемую поверхность и на глаз оценивают просвет между ними. Невооруженным глазом можно обнаружить просвет в 1—2 мкм. Для более точной оценки используют образец просвета (рис. 10.1), составленный из концевых мер 4 с разницей 1 мкм, притертых к стеклянной пластине /, а также лекальной линейки 3, уложенной на две крайние меры 2 одинакового размера. Во втором случае линейку укладывают на две опоры равного размера, расположенные на поверяемой поверхности, и определяют расстояние между поверяемой и рабочей поверхностями линейки с помощью щупов, концевых мер длины или специальными приборами с отсчетным устройством. Опоры рекомендуется располагать на расстоянии 0,21/ от концов линейки (см. рис. 10.1).

пятен краски в квадрате со стороной 25 мм и равномерность распределения пятен на поверяемой поверхности. Однако численного значения отклонений от плоскости этот метод не дает. Чем больше число пятен в квадрате, тем меньше отклонение от плоскостности.

последовательном измерении смещения отдельных точек поверяемой поверхности относительно предыдущей точки. Уровень переставляют по поверяемой поверхности так, чтобы задняя опора каждый раз устанавливалась на место передней. При каждой установке отсчитывают отклонения от горизонтальной плоскости и строят график отклонений точек профиля относительно горизонтальной плоскости. Методика обработки результатов измерения плоскостности шаговым методом приведена в работе [9].

По принципу оптической струны выполнена конструкция оптических плоско-меров. В этом случае визирная труба имеет возможность поворачиваться в горизонтальной плоскости на основании с тремя регулируемыми опорами. Регулируя опоры по трем светящимся маркам, имеющим микрометрические винты, добиваются, чтобы изображение диафрагм трех марок находилось в центре перекрестия прибора. Этим определяется исходная плоскость. Устанавливая теперь марку в любую точку поверяемой поверхности, можно определить отклонение от исходной плоскости по барабану микрометрического винта.

Объективы / и 13 размещены в корпусе 14, который опирается на опоры 15ч 20, устанавливаемые на поверяемую поверхность. Одна из опор регулируется по высоте. Измерительная каретка перемещается по поверяемой поверхности на роликах 16 и 19. Осветительная и измерительные части оптической системы смонтированы внутри

Сравнение поверхностей детали и образца невооруженным глазом дает удовлетворительные результаты только для относительно грубых поверхностей (приблизительно от Ra = 0,6-ьО,8 мкм и более). Точность при визуальной оценке шероховатости может быть повышена в случае применения лупы или микроскопов сравнения, например микроскопа модели МС-48. Проверка образцов шероховатости производится по ГОСТ 8.300—78. В некоторых случаях можно производить сравнение поверяемой поверхности с поверхностью специально изготовленных образцовых деталей.

вающая игла 3. В зависимости от вида поверяемой поверхности базой может служить и применяемая в приборе плоская независимая опора. При передвижении преобразователя 4, положение которого определяется по шкале 8, перемещение алмазной иглы 3 преобразуется в электрический сигнал, который усиливается и обрабатывается в измерительном блоке 10. На блоке 10 расположены органы 15 для настройки прибора и установления режимов его работы. Результаты измерения воспроизводятся на цифровом отсчетном устройстве 12 счетно-решающего блока 9, на котором расположены кнопочные переключатели // измеряемых параметров. Схема питания прибора расположена в блоке 13, коммутирующем силовые цепи. На блоке 13 расположены кнопки 16 включения и управления работой прибора и таблица 14 пересчета горизонтальных увеличений.

Нить лампы накаливания / проектируется коллектором 2 в плоскость апертур-ной диафрагмы 4. В фокальной плоскости проекционного объектива 6 помещена полевая диафрагма 5, которая изображается объективом в бесконечности. Параллельный пучок лучей попадает на разделительную пластинку 7, которая одну половину лучей отражает, а другую — пропускает. Отраженный от пластинки 7 пучок лучей собирается в фокусе объектива 10 на поверяемой поверхности детали 8, установлен-

ной на столике 9. Столик перемещается в двух направлениях с помощью микрометрических винтов. После отражения от поверяемой поверхности пучок снова проходит через объектив 10, пластинку 7 и собирается в фокусе объектива 14, где наблюдается изображение поверяемой поверхности. Зеркало 15 направляет лучи в визуальный тубус.

Для работы с монохроматическим светом микроинтерферометр снабжен двумя переключающимися интерференционными светофильтрами 3. При фотографировании поверяемой поверхности зеркало 15 выключается из хода лучей и свет, пройдя специальный фотоокуляр 16 и отразившись от зеркала 17, падает на поверхность матового стекла или фотопленку 18.

Измеряемая деталь 9 располагается на столике 10, имеющем возможность перемещаться в двух направлениях с помощью микрометрических винтов //. На поверяемую поверхность детали с помощью проецирующего микроскопа от лампочки / под углом 45° направляются лучи света. Они проходят защитное стекло 2, двухлинзовый коллектор 3, щель 4, светофильтр 5, ахроматические линзы 6 и 7 и сменные объективы 8. Коллектор 3 вместе с ахроматическими линзами 6 и 7 дает изображение нити лампы / во входном зрачке объектива микроскопа, а щель 4 с помощью ахроматических линз и сменных объективов 8 изображается на поверяемой поверхности детали 9, на которой она рассматривается с помощью микроскопа наблюдения. Микроскоп наблюдения состоит из окулярного винтового микрометра 12 и дополнительной линзы 7. В обоих микроскопах применены парные объективы 8, корригированные на бесконечность.

Изучение эрозионных следов и приповерхностного слоя металла при электроимпульсной технологии позволяет однозначно определить физическую природу механизма эрозии. Эрозионный след на электродах представляет собой оплавленную поверхность с наибольшим углублением в точке контакта канала разряда с поверхностью электрода. Радиально от углубления расходятся риски с многочисленными иглообразными частицами, которые заканчиваются наплывами металла на неповрежденную эрозией повфхность. Формирование такого эрозионного следа возможно под действием плазменной струи, когда расплавленный металл электрода сдувается с поверхности эрозионного следа, частично унося его в межэлектродный объем, а оставшийся металл застывает в виде отдельных

островков-наплывов или кольцевого валика с радиально ориентированными иглообразными частицами. Наибольшее углубление эрозионного следа (10-15 мкм) в точке контакта канала разряда с поверхностью электрода можно объяснить тем, что металл в этой области интенсивно прогревается и плавится за счет электронной и ионной бомбардировки, более высокой температуры в центре струи.

воздействия теплового потока с поверхностью электрода после установления на последней квазистационарной температуры.

Для уменьшения эрозии электродов в местах соприкосновения опорных пятен дуги с поверхностью электрода дуга быстро перемещается по его поверхности с помощью газодинамических сил (схемы на рис. 11-1,6—д), внешнего магнитного поля (схема на рис. 11-1,з) или их совместного воздействия (схема на рис. 11-1,е). Вихревая и магнитная стабилизация дуги уменьшает диаметр разряда и позволяет повысить температуру в струе. Для того чтобы уменьшить вредное влияние закрутки потока, связанной с вихревой или магнитной стабилизацией дуги, выход газа устраивают сбоку или по касательной к линиям тока (схема на рис. 11-1, е). Эта же схема позволяет уменьшить долю примесей, попадающих в поток при разрушении электродов, путем отсоса газа из приэлектродных зон.

Механизм депассивирующего действия хлоридов состоит в следующем. Хлор-ионы легко адсорбируются поверхностью электрода, имеющей пассивирующую .пленку. Адсорбция может происходить при потенциале, гораздо менее, положительном, чем потенциал выделения C\z на аноде, так как энергия, нужная для образования адсорбционного соединения, гораздо меньше, чем для образования газообразного С12. Адсорбция хлоридов поверхностью металла, по-видимому, ведет к вытеснению и замещению ионов кислорода в пассивирующей пленке на ионы хлора. После такой замены в точках адсорбции хлор-ионов 'получается растворимое хлористое соединение металла, что ведет к образованию пор в защитной пленке.

Метод распыления ([6], состоит в следующем1. В газовую атмосферу с низким давлением помещаются два электрода, между которыми наводится разность потенциалов, в результате чего газ ионизируется. Ионы сталкиваются с электродом, выбивая атомы с его поверхности. При столкновении ионов газа с твердой поверхностью электрода происходят различные процессы, схематично показанные на рис. 2.2. В результате удара из металла выбиваются

Применяемый при ЭЭО разряд возбуждается электрическим пробоем. Электрический пробой при подаче импульса напряжения 50—250 В происходит между микровыступом электрода-заготовки и обработанной поверхностью электрода-инструмента. В результате при ЭЭО разрушаются именно выступы, выравнивая поверхность заготовки по всему межэлектродному зазору. В случае возбуждения разряда замыканием МЭП гранулами шлама процесс ЭЭО нарушается, изменяются параметры режима, снижая точность и качество поверхности.

Другим источником водорода, помимо компонентов покрытия, служит влага, адсорбированная поверхностью электрода. Если электроды хорошо прокалены перед сваркой, то ввиду относи-

зазор между боковой поверхностью электрода и отверстием допуск

Для того чтобы понять физический смысл '^-потенциала, рассмотрим вкратце строение двойного слоя [46]. Как уже указывалось, на границе раздела металл — электролит возникает электрический слой, образованный отрицательными или положительными зарядами, имеющимися на поверхности металла, и ионами противоположного знака, располагающимися вблизи электрода в растворе. Не следует, однако, думать, что все ионы обкладки двойного слоя одинаково сильно связаны с поверхностью электрода. Благодаря наличию кинетического движения ионов, с одной стороны, и электростатического взаимодействия между ионами и электродом, —с другой стороны, получается определенное распределение ионов вблизи поверхности электрода. Часть ионов прочно связана с поверхностью, мало подвижна и расположена на близком расстоянии от поверхности (радиус иона). Эта часть ионов образует так называемый плотный или гельмгольцевский слой. Другая часть ионов гораздо слабее связана с поверхностью электрода, более подвижна и простирается на расстояние, превышающее радиус иона. Она образует так называемый диффузный слой, в котором имеется определенное распределе-

зеркалу пленки; затем вращением микрометрического винта достигается контакт иглы с пленкой. При этом наблюдается небольшое отклонение стрелки гальванометра. Затем быстрым вращением микровинта игла приводится в соприкосновение с поверхностью электрода, что сопровождается резким возрастанием силы тока в цепи; последнее фиксируется по отклонению стрелки гальванометра. По разности показаний барабана микрометрического винта, соответствующих слабому и сильному отклонению стрелки гальванометра, находят толщину пленки. Напряжение, при котором лучше всего наблюдается отклонение стрелки гальванометра для данного электролита, подбирается при помощи делителя напряжения или реостата. Такие измерения проводятся при определении толщины пленок электролитов невысокой концентрации (до 0,001 N). Для определения же толщины пленок более высокой концентрации игла и образец замыкаются через гальванометр без постороннего источника тока. При наличии на поверхности металла пленки электролита высокой концентрации в момент соприкосновения иглы с пленкой происходит сильное отклонение стрелки гальванометра из-за возникновения эдс пары игла — образец. Когда игла касается образца, стрелка гальванометра возвращается в исходное положение. Фиксируя эти положения на микрометрическом винте, определяют толщину пленки.

Для того чтобы понять физический смысл потенциала tj)lt рассмотрим строение двойного слоя. Как известно, на границе раздела фаз металл — электролит возникает электрический слой, образованный отрицательными или положительными зарядами, имеющимися на поверхности металла, и ионами противоположного знака, располагающимися вблизи электрода в растворе. Не следует, однако, думать, что все ионы двойного слоя одинаково сильно связаны с поверхностью электрода. Благодаря кинетическому движению ионов, с одной стороны, и электростатическому взаимодействию между ионами и электродом, с другой стороны, получается определенное распределение ионов -вблизи поверхности электрода. Часть ионов прочно связана с поверхностью, мало подвижна и расположена на близком расстоянии от поверхности (радиус иона). Это плотный, или так называемый гельмгольцевекий, слой. Другая часть ионов гораздо слабее связана с поверхностью электрода, более подвижна и простирается на расстояние, превышающее радиус иона. Она образует так 'называемый диффузный слой, в котором имеется определенное распределение ионов. Концентрация ионов, несущих заряд, противоположный заряду поверхности металла, убывает по мере удаления от поверхности электрода, а концентрация ионов, имеющих такой же заряд, как и заряд электрода, возрастает с увеличением расстояния от электрода.