Поверхности исследуемого

Обработка результатов измерений. Измерения производятся на стационарном режиме установки, соответствующем определенному значению температуры поверхности исследуемой проволоки, поэтому проволока и оболочка (внутренняя поверхность калориметра) участвуют в процессе установившегося лучистого теплообмена. В этом случае количество энергии, затраченное в процессе нагревания проволоки, представляет собой результирующий поток излучения, а так как Л<С <СFZ, то коэффициент излучения определяется соотношением (10.47).

нормального сопротивления 7. Величина этого сопротивления постоянна и равна 0,01 ом. Температура исследуемой проволоки определяется по температурному изменению ее омического сопротивления. Следовательно, проволока одновременно является термометром сопротивления. Зависимость омического сопротивления исследуемого тела от температуры определяется предварительными опытами. Так как тепловой поток ог поверхности исследуемой проволоки относительно невелик, а расход

бой решётку из проволоки (константан, сплавы на основе никеля и молибдена, легир. нихром и др.) или фольги (иногда ПП), к-рая приклеивается к поверхности исследуемой детали (при повыш. темп-pax — приваривается). Изготовляются ненаклеиваемые Т., преимущество к-рых заключается в отсутствии поперечной тензочувствительности и малом гистерезисе.

В зависимости от конструкции тензометрической решетки различают проволочные и фольговые тензодатчики. Проволочный тензодатчик состоит из решетки очень тонкой проволоки (диаметром около 0,025 мм), заклеенной между листами тонкой бумаги. Тензодатчик приклеивают в требуемом месте на поверхности исследуемой детали, причем его решетка ориентируется в нужном направлении. Деформации, возникающие в детали или образце под действием нагрузки, передаются через слой клея решетке тензодатчика, изменяя ее сопротивление. Это изменение сопротивления точно измеряют с помощью специальной тензоаппарату-ры. Оно дает среднюю деформацию на базовой длине тензочувст-вительной решетки датчика.

Для хрупких покрытий очень малой толщины (~0,2 мм) напряжения в покрытии, как оказалось [11], можно выразить через напряжения на поверхности исследуемой детали следующим образом:

1) Оценку влияния толщины и собственной жесткости покрытия, характера распределения деформаций по поверхности исследуемой детали, искривления поверхности детали при деформации, свободного края покрытия провел также Л. А. Краснов (см., например, статью в сборнике [30*]).— Прим. ред.

Тензометр Де-Фореста [24] Царапающий рычаг '1 с абразивным остриём (фиг. 162, а см. вклейку) производит запись на полированной хромовой пластинке 2. Постоянство нажатия острия достигается пружинной скобой 3. Пластинка 2 и рычаг 1 укрепляются на поверхности исследуемой детали Перед записью рычаг отклоняется в крайнее положение и при деформации приводится в движение пружиной 4 (коэфициент трения скольжения меньше коэфициента трения покоя). Рычаг /, скоба 3 и пластинка для записи 2 крепятся на подкладках 5 и 6, прикрепляемых к детали

укреплённый в корпусе прибора (фиг. 166, б). Корпус закрепляется на поверхности исследуемой детали посредством конического штифта 2. Против концов сердечника помещён якорь 3, который находится в оправе 4, имеющей конический штифт 5, закреплённый на детали в другом конце базы. Для регулирования воздушного зазора между якорем и магнитом в корпусе прибора имеется винт 6 с дифе-ренциальной нарезкой (одному обороту винта соответствует изменение зазора на 0,05 мм). Штифты '2 и 5 припаиваются к детали заранее.

проверка микросхем высокой степени интеграции часто оказывается более сложной проблемой, чем их изготовление. Среди существующих методов неразрушающего контроля полупроводниковых структур и ИС выгодно отличается фотоэлектрический, основанный на зондировании лазерным лучом по поверхности исследуемой структуры с последующей обработкой выходных сигналов. Суть метода состоит в исследовании внутреннего фотоэффекта в полупроводниковых элементах ИС, а применение лазера вызвано необходимостью использования монохроматического источника, работающего на фиксированной длине волны.

Испытания должны воспроизводить типичный эксплуатационный вид разрушения поверхности исследуемой детали. Применительно к исследованиям изнашивания деталей ходовой части гусеничных машин требуется воспроизвести вид разрушения поверхности, который возникает при трении детали, погружающейся з грунт или при изнашивании двух движущихся относительно друг друга сопряженных деталей находящимся между ними незакрепленными абразивными частицами (причем возможен и непосредственный контакт металлических поверхностей). Этому требованию отвечает предлагаемый метод из,носных испытаний в вибрационной установке.

заполнения шероховатостей свинцом. Относительная погрешность заполнения будет уменьшаться с увеличением размеров микронеровностей. При использовании для получения оттисков пластин из легко окисляющихся металлов или сплавов следует учитывать возможные искажения действительного состояния поверхности исследуемой детали вследствие окисления оттиска со временем. Измерения на оттиске следует щюводить в течение первых 5—6 часов после его снятия или сохранять оттиск в среде, предохраняющей поверхность от окисления.

стенные строит, конструкции типа оболочек, состоящие из плоских элементов (пластинок), соединённых между собой под нек-рыми углами. С.к. из прямоугольных пластинок наз. призматическими. Наибольшее распространение получили С.к. из монолитного или сборного ж.-б. (в т.ч. предварительно напряжённые конструкции и армоцементные конструкции], применяемые для покрытия пром. и обществ, зданий. СКЛЕРОМЕТР (от греч. skleros -твёрдый и ...метр) - прибор для определения твёрдости минералов, кристаллов, металлов и др. по методу оценки царапин или углублений от вдавливания. Твёрдость оценивают по нагрузке, к-рую необходимо приложить к стальной или алмазной игле либо пирамиде для получения царапины или следа пирамиды на поверхности исследуемого тела, и измерению глубины и ширины или площади оставленных отпечатков. СКЛЕРОСКОП (от греч. skleros - твёрдый и ...скоп) - прибор для измерений твёрдости материалов по Шора методу. Твёрдость на С. определяется в усл. единицах, пропорциональных высоте отскакивания бойка. СКОБА - подковообразная или П-об-разная деталь, применяемая в строит, конструкциях, плотничных и столярных изделиях для скрепления отд. элементов, в машиностроении - для закрепления заготовок при обработке, разметке и т.п.

В электронном микроскопе изображение поверхности во вторичных частицах создается благодаря развертке сфокусированного пучка электронов (зонда) по поверхности исследуемого образца. Пучок требуемого диаметра перемещается по образцу, разворачиваясь в р а с т р, представляющий собой совокупность близко расположенных параллельных линий, вдоль которых пучок обегает за период развертки выбранный

Температура поверхности исследуемого материала измеряется с помощью двух термопар 7 и 8 (см. рис. 2-1), заложенных соответственно на обогреваемой поверхности прибора п на поверхности холодильника. Кроме этих двух термопар, в приборе заложены еще три вспомогательные термопары; термопара 9 служит для контроля работы кольцевого электронагревателя. Показания термопар 7 и 9 должны быть одинаковыми.

Исследование теплоотдачи пучка труб по методу теплового регулярного режима. Исследования теплоотдачи методом регулярного теплового режима проводились в целом 'ряде работ [Л. 5-27, 5-31, 5-55]. В некоторых случаях, как указывалось выле, этот метод облегчает постановку эксперимента, так как не требует измерения тепловых потоков и распределения температурного поля на поверхности исследуемого тела. Последнее обстоятельство особенно важно для тел, имеющих сложную геометрическую форму (лопагки и другие элементы паровых и газовых турбин, трубы с фасонными плавниками, гладкие грубы овального поперечного сечения и т. д.).

СКЛЕРОМЕТР (от греч. sklerds — твёрдый и metreo — измеряю) — прибор для определения твёрдости минералов, кристаллов, металлов и др. по нагрузке, к-рую необходимо приложить к стальной или алмазной игле либо пирамиде для получения царапины или отпечатка пирамиды (глубина к-рых измеряется) на поверхности исследуемого тела.

ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор для исследования различных объектов, требующих увеличения в неск. сотен тысяч раз, в к-ром изображение получается с помощью пучков быстро летящих электронов, а для их преломления и фокусировки применяются магнитные (электромагнитные) или электростатич. линзы. Исследуемый объект рассеивает, отражает и поглощает электроны. Для исследования объектов в проходящих пучках применяют Э. м. просвечивающего типа, обладающие самой высокой разрешающей способностью (8—50 А) по сравнению с др. типами Э. м. Для изучения массивных, непрозрачных для электронов объектов обычно применяют эмиссионные Э. м., в к-рых изображение получают с помощью электронов, испускаемых образцом при нагреве, освещении или бомбардировке его ионами или электронами (разрешающая способность 200— 300 А). Растровые, или сканирующие, Э. м. позволяют исследовать как не прозрачные, так и прозрачные для электронов объекты, на к-рые направляется тонкий пучок электронов, непрерывно обегающий (сканирующий) участок поверхности объекта (разрешающая способность ~200 А). Отражательный Э. м. даёт изображение объектов с помощью рассеянных электронов, к-рые проходят через систему линз, увеличивающих изображение (разрешающая способность 300—500 А). С помощью зеркальных Э. м. получают распределение электрич. потенциала у поверхности исследуемого образца. Электроны отражаются не непосредственно объектом, а экранирующей его эквипотенц. поверхностью (разрешающая способность 1000 А). В теневом Э. м. на образец направляется тонкий электронный зонд, к-рый на удалённом от объекта экране даёт увеличенное теневое изображение объекта (разрешающая способность до неск. сотен А). С помощью Э. м. можно изучать изображения отд. атомных плоскостей, дислокационные картины в металлах и сплавах, кристаллич. структуру. В кон. 60-х гг. с помощью Э. м. получены фотографии крупных молекул, на к-рых видно расположение ядер нек-рых атомов.

Возможности дифракции света могут быть использованием я контроля объектов и их поверхностей с примене- -нием эталона объекта. При этом на малом расстоянии от поверхности исследуемого объекта устанавливается поверхность эталона с заранее известной конфигурацией и формой.-Зазор между поверхностями образует щель, которая освещается монохроматическим излучением от источника типа лазера. В результате на экране или в плоскости анализа наблюдается дифракционная картина, по виду которой и расположению колец или полос судят о состоянии исследуемой поверхности. Такой способ применим для контроля профиля, плоскостности, ци-линдричности и других геометрических параметров круглых и плоских, подвижных и неподвижных изделий.

Отложения оксидов металлов в трубе обнаруживают при помощи индукционного датчика, представляющего собой постоянный магнит с обмоткой медного провода (оператор водит прибором по поверхности исследуемого трубопровода). При прохождении участка с металлооксидными отложениями магнитное сопротивление цепи магнит - трубопровод уменьшается, что приводит к изменению напряженности магнитного поля магнита и сопровождается возникновением в обмотке магнита ЭДС индукции, поступающей на вход двухкаскадного транзисторного усилителя постоянного тока, и усиленный импульс регистрируется микроамперметром. Отклонение стрелки прибора зависит от толщины слоя отложения и скорости движения датчика по трубопроводу. Однако из-за малой длительности импульса индуктируемой ЭДС, наличия омического сопротивления обмотки магнита и инерционности подвижной части микроамперметра

Как будет показано ниже, главное достоинство критерия типа (4.5) состоит в использовании параметра (4.4), отражающего влияние вида напряженного состояния на энергию активации процесса разрушения. Иными словами, изменение вида напряженного состояния адекватно изменению свойств исходного материала. В этих условиях теряет смысл оценка состоятельности критерия прочности на основании результатов анализа предельной поверхности исследуемого материала, предполагаемого однородным и сплошным [89].

После настройки образец из мягкого сплава заменяют испытуемым, вырезанным из слитка стекла в виде цилиндра или призмы с выходом на торец (2x2 мм) участка контактной поверхности. В положении II наклон объектодержателя нивелируется винтами так, чтобы изображение нити накала осветителя (12) оптической системы вошло в очерченные по пробному образцу контуры на экране (/5). Поскольку длина оптического рычага (ломанная ГДЕЖЗ, рис. 2, б) превышает величину 1500 мм, совмещение изображения нити накала осветителя на экране относительно очерченного контура с погрешностью до 2 мм обеспечивает точность нивелирования более 1 мкм по всей поверхности исследуемого образца (до 4 мм2).

В работах [1, 2] получил дальнейшее развитие метод магнитоструктурного анализа ферромагнитных материалов. В них установлена связь между нормальной компонентой намагниченности /„ материала и нормальной составляющей магнитного поля Я„ на поверхности исследуемого ферромагнетика: