Рентгеновской дифракции

Широкое распространение в бетатрон-ной и рентгеновской дефектоскопии получили схемы, основанные на измерении разности усредненных с помощью диодов и интегрирующих звеньев импульсов первого и второго сцинтилля-ционных детекторов (рис. 7). Существенным недостатком этих схем является необходимость выбора параметров интегрирующих звеньев строго одинаковыми. В противном случае при нестабильно работающем ускорителе точность определения степени дефектности контролируемого изделия не может быть высокой. Этот недостаток устраняется при сравнении амплитуд импульсов сцинтилляционных детекторов, пропорциональных дозе в импульсе излучения с их предварительным преобразованием, которое осуществляется с помощью зарядного устройства и ключа (рис. 8). Управление ключом производят таким образом, чтобы длительность получаемых импульсов равнялась половине периода следования импульсов излучения. Благодаря предварительному преобразованию формы импульсов сцинтилляционных детекторов повышаются быстродействие и помехоустойчивость дефектоскопов как при вычитающей схеме, так и при схеме измерения отношения.

Для определения погрешности при локации источника используют имитатор сигнала эмиссии, положение которого изменяют в пределах выбранной сетки преобразователей. Так как обнаруженный источник сигналов обычно перепроверяют методами ультразвуковой или рентгеновской дефектоскопии, достаточна точность ±(5— 10) см.

Лит.: Корнишин К. П., Ксерографиче-ский метод получения изображений при рентгеновской дефектоскопии, М, 1959; Дюран Р. Л , Промышленная ксерорадиографця, в кн.' Промышленная радиография, пер. с англ., М , 1960. К. И, Корпишин.

Лит.: Корнишин К. И., «ЗЛ», 1963, т. 29, № 1; его же, Ксерографический метод получения изображений при рентгеновской дефектоскопии, М., 1959. С. М. Рождественский. ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКАЯ ЛИСТОВАЯ СТАЛЬ — сталь с содержанием кремния до 4,3% для изготовления статоров и роторов электродвигателей и генераторов, сердечников трансформаторов и дросселей, деталей электромагнитных аппаратов и приборов. Условно Э л, с. разделяют на динамную (содержание кремния 0,8—2,5%) и трансформаторную (содержание кремния 3,0—• 4,3%), Кремний как легирующий элемент резко повышаетудель-Рис. 1. Влияние содер- ное электросопротив-на ление Э. л. с. (рис. 1) и вследствие этого снижает потери на вихревые токи; повышает магнитную проницаемость, снижает коэрцитивную силу, потери на гистерезис и полные потери (рис, 2);

52. К о р н и ш и н К. И. Новые методы получения изображений при рентгеновской дефектоскопии. Сб. докладов совещания по вопросам контроля неразрушающими методами, МДНТП им. Дзержинского, М., 1958.

Один из наиболее крупных недостатков контактной сварки заключается в невозможности применения неразрушающей дефектоскопии. Как при ультразвуковой, так и при рентгеновской дефектоскопии мешают наружный и внутренний грат. Поэтому ведутся непрерывные работы как по изысканию новых методов дефектоскопии контактных сварных стыков, так и по разработке безгра-товой сварки.

очень точного контроля зазоров. Тонкие трубы могут быть успешно сварены при использовании постоянного тока, а для более толстых труб требуется пульсирующий источник тока или даже сварка с контролем обратной связи. Особенно это необходимо для труб из аустенитных сталей, так как в этом случае во избежание горячих трещин желательно обеспечить определенное содержание феррита в металле сварного шва. Высокого качества сварки можно достигнуть при использовании присадочной проволоки соответствующего состава. Контроль сварных швов осуществляется методом рентгеновской дефектоскопии.

Оборудование. Работы по рентгеновской дефектоскопии, предусмотренной технологическим процессом изготовления деталей требующих серийной проверки, сосредоточивают в цеховых рентгеновских лабораториях, на-

Рентгеноструктурный анализ д?ег возможность определить тип стр\ к-туры и параметры решетки, разметы кристаллов, их ориентировку, наличие микродефектов и неметаллических включений, которые нельзя обнаружить обычными методами рентгеновской дефектоскопии.

При рентгеновской дефектоскопии применяют различную аппаратуру: от простых устройств флюороскопического контроля до установок, использующих электронно-оптические преобразователи, телевизионные устройства, устройства магнитной записи и т.п. Для рентгеновской дефектоскопии служат установки, состоящие из рентгеновской трубки, высоковольтного источника напряжения и контрольной аппаратуры. В настоящее время для промышленных целей широко применяется передвижная (разборная) и переносная (портативная) рентгеновская дефектоскопическая аппаратура.

Широкое распространение в бетатронной и рентгеновской дефектоскопии получили схемы, основанные на измерении разности усредненных с помощью диодов и интегрирующих звеньев импульсов первого и второго сцинтилляционных детекторов (рис. 7).

Вторая стадия - стадия текучести, на которой наблюдается негомогенная пластическая деформация в виде прохождения по всей рабочей длине образца фронта Людерса - Чернова. Уже на ранних стадиях пластического течения в металле могут зарождаться субмикротрещины (длиной порядка 100 нм, шириной 1-10 нм, радиус острия ~ 0,1 нм). Этот дефект атомных масштабов, возникающий при встрече полосы скольжения с препятствием, по существу представляет собой сверхдислокацию, находящуюся в упругом равновесии с нолем напряжений, создаваемых клином субмикротрещины в окружающем материале. При низкотемпературном отжиге эти субмикротрещины захлопываются. Методами малоугловой рентгеновской дифракции и электронной микроскопии обнаруживаются зародышевые субмикротрещины с размерами от тысячи ангстрем. Стадия текучести не наблюдается у металлических материалов, у которых на диаграмме статического растяжения отсутствует деформация Людерса - Чернова.

Подтверждением указанной природы снижения микротвердости явились данные рентгеноструктурного анализа микроискажений кристаллической решетки поверхности, полученные методом рентгеновской дифракции на установке ДРОН-1. Относительная микродеформация решетки в исходном состоянии составила 1,22-Ю"3; после обработки щетками в режиме резания без ХАС 1,75-10~3; после механохимической обработки 1,24-10~3, т.е. релаксация напряжений в тонком поверхностном слое вследствие хемомеханического эффекта привела к почти полному возрату физико-механических свойств.

Изменение предела прочности углеродных материалов в зависимости от температуры их обработки, т. е. по мере повышения, степени упорядочения их кристаллической структуры, так же как и модуля упругости, немонотонно. В интервале температуры 2100—2300° С наблюдается экстремум. Было> показано [60, с. 152], что для материалов, обработанных при температуре >2300°С, усилие разрушения при сжатии а прямо пропорционально определенному методами ' рентгеновской дифракции диаметру кристаллитов Ьа в степени —1/2. Иными словами, разрушение графита объяснялось, в соответствии с теорией Гриффитса — Орована, спонтанным распространением трещин по кристаллиту. Справедливо соотношение

Параметры структуры некоторых типов углеродных волокон на основе пека, полученные методом рентгеновской дифракции, приведены в табл. 1.2. [18] Из анализа данных таблицы следует, что углеродные волокна, полученные из изотропного пека, имеют меньшие значения La, Lc и большие dQ02, чем углеродные волокна, полученные из мезофазных пеков. В процессе графитации изотропных волокон на основе пека увеличиваются размеры кристаллитов и уменьшается межслоевое расстояние d002-

Растворимость Си в (Сг) определена в работе [4] при двух температурах, а в работе [7] — при трех температурах методом рентгеновской дифракции при анализе кристаллов Сг, селективно выделенных из сплава после изотермической выдержки. Эти данные приведены в табл. 39.

Экспериментальная диаграмма состояния Ge—Li построена в интервале концентраций 0—4,5 % (ат.) Ge и 42—100 % (ат.) Ge в работе [1]. В качестве исходных материалов были использованы Li чистотой 99,8 % (по массе) и Ge чистотой 99,99 % (по массе). Сплавы готовили в тиглях из Fe в атмосфере Аг и исследовали методами дифференциального термического анализа, металлографии и рентгеновской дифракции. В работе [2] синтезировано два соединения Li4ttGen и Li3nGert с температурами плавления 750 ± 10 и 800 ±

жидкого металла/ Характерно, что первый пик g(r) острый и довольно высокий (2,5—3), а второй пик имеет заметную ширину. С понижением температуры положение пиков практически не изменяется, однако первый пик функции g(r) все более заостряется, а второй начинает распадаться на два. При Г<22,3 К разделение второго пика g(r) в аргоне, также как и в аморфных сплавах, можно обнаружить методами рентгеновской дифракции.

Определение парциальных структурных факторов, использующее аномальное рассеяние нейтронов, еще не проводилось, но осуществлена попытка выделения парциальных структурных факторов методом рассеяния поляризованных нейтронов в ферромагнитных аморфных сплавах Со—Р [19]. Авторы '[19] показали, что высота первого пика Spp(Q) больше высоты первых пиков Scooo(Q) и Scop(Q)- Это говорит о том, что расстояние между атомами Р велико вследствии их сильного отталкивания и соседние атомы Р не могут находиться в таких положениях, когда они непосредственно соприкасаются друг с другом. Впоследствии авторами {20] проведено вычисление ближайшего атомного окружения по данным рентгеновского рассеяния и рассеяния поляризованных и неполяризованных нейтронов в аморфном сплаве Со — 20% (ат.) Р. Подобное разделение с использованием аномального рассеяния экспериментально проведено методами рентгеновской дифракции, описанными в [21], на аморфных сплавах Ni—Р [22], Fe—Р [61], Fe—В [23].

На рис. 3.20 показана определенная в работе [40] ТСРП К-края спектра поглощения Fe и Ni в аморфном сплаве Fe4oiNi4oB2o. Различить атомы Fe и Ni методами обычной рентгеновской дифракции крайне трудно, а в методе ТСРП от этих элементов получаются

Рис. 3.43. Парциальные ФРР аморфного сплава Fe75P25: а —модель СПУ-структуры с релаксацией по анизотропному потенциалу Морзе, построенная из трехгранных призм [57] • б — парциальные ФРР, определенные в экспериментах по рентгеновской дифракции с использованием аномального рассеяния [611- 1 — Fe — Fe; 2 — Fe — P; 3 — Р — Р

что подтверждено экспериментально методами рентгеновской дифракции и просвечивающей электронной микроскопии.